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非接觸式光學(xué)干涉表面輪廓形貌儀

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公司名稱北京瑞普能貿(mào)易有限公司
品牌
型號
所在地北京市
廠商性質(zhì)其他
更新時間2024/8/3 8:41:40
訪問次數(shù)83

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北京瑞普能貿(mào)易有限公司秉承“誠信，專業(yè)，服務(wù)”的理念，為國內(nèi)企業(yè)提供國外企業(yè)的精密計量測試儀器，三豐圓度儀，泰勒圓度儀，zygo白光干涉儀，機床設(shè)備附件等。我們的產(chǎn)品廣泛用于機械，電子，航天，航空，汽車，通訊等領(lǐng)域。希望我們的高精度設(shè)備能幫助您控制和提高產(chǎn)品質(zhì)量，增強市場競爭力。我們的服務(wù)理念！秉承“誠信，專業(yè)，服務(wù)”的理念，為國內(nèi)企業(yè)提供國外企業(yè)的精密計量測試儀器，實驗室儀器，機床設(shè)備附件等。我們的產(chǎn)品廣泛用于機械，電子，航天，航空，汽車，通訊等領(lǐng)域。

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TalysurfCCI非接觸式光學(xué)干涉表面輪廓儀，一臺的光學(xué)儀，采用了創(chuàng)新的相關(guān)相干算法，對拋光的、粗糙的、曲面的、平面的、或者臺階的表面進行掃描，獲取表面的三維形貌數(shù)據(jù)

非接觸式光學(xué)干涉表面輪廓形貌儀產(chǎn)品信息

Talysurf CCI非接觸式光學(xué)干涉表面輪廓儀，一臺的光學(xué)儀，采用了創(chuàng)新的相關(guān)相干算法，對拋光的、粗糙的、曲面的、平面的、或者臺階的表面進行掃描，獲取表面的三維形貌數(shù)據(jù)。

型號	CCI
測量方法	相關(guān)相干干涉（CCI）
Z軸分辨率	0.01nm
Z軸測量范圍	2.2nm
RMS重復(fù)性	＜0.02nm
測量面積（X.Y）	6.6x6.6mm
特點	非壓電陶瓷閉環(huán)Z軸控制，提高精度，不易損壞
應(yīng)用范圍	MEMS, 芯片，膜厚，鏡頭和玻璃表面分析，磨損測試和摩擦學(xué)，材料分析，太陽能電池，等