為什么要在老化時(shí)進(jìn)行測(cè)試:

在老化階段進(jìn)行半導(dǎo)體測(cè)試之所以有意義有多種原因，在探討這些原因之前，我們首先要明確“測(cè)試”的真正含義。

一般半導(dǎo)體測(cè)試要用到昂貴的高速自動(dòng)測(cè)試設(shè)備，在一個(gè)電性能條件可調(diào)的測(cè)試臺(tái)上對(duì)半導(dǎo)體作測(cè)試。它還可以在標(biāo)稱性能范圍之外進(jìn)行，完成功能（邏輯）和參數(shù)（速度）方面的測(cè)試，像信號(hào)升降時(shí)間之類的參數(shù)可到皮秒級(jí)。也許是因?yàn)榭煽販y(cè)試環(huán)境只有一個(gè)器件作為電性負(fù)載，所以信號(hào)轉(zhuǎn)換很快，能夠進(jìn)行真實(shí)的器件響應(yīng)參數(shù)測(cè)量。

但在老化的時(shí)候，為提高產(chǎn)品的產(chǎn)量是能夠同時(shí)對(duì)盡可能多的器件作老化。為滿足這一要求，可把多個(gè)器件裝在一個(gè)大的印刷線路板上，這個(gè)板稱為老化板，它上面的所有器件都并聯(lián)在一起。大型老化板的物理電氣特性不能和只測(cè)試一個(gè)器件的小測(cè)試臺(tái)相比，因?yàn)槔匣迳系娜菪院透行载?fù)載會(huì)給速度測(cè)試帶來(lái)麻煩。所以我們通常無(wú)法用老化進(jìn)行所有功能測(cè)試。不過(guò)在某些情況下，運(yùn)用特殊的系統(tǒng)設(shè)計(jì)技術(shù)在老化環(huán)境下進(jìn)行速度測(cè)試也是可能的。

老化系統(tǒng)中的“測(cè)試”可以指任何方面，從對(duì)每一器件每一管腳進(jìn)行基本信號(hào)測(cè)試，到對(duì)老化板上的所有器件作幾乎*功能測(cè)試，這一切均視器件復(fù)雜性及所選用的老化測(cè)試系統(tǒng)而定?？梢哉f(shuō)對(duì)任何器件進(jìn)行*功能測(cè)試都是可以做得到的，但是這樣采用的方法可能會(huì)減少老化板上的器件密度，從而增加整體成本并降低產(chǎn)量。