跟著測量儀器的需求也越來越廣泛，只需觸及精細(xì)標(biāo)準(zhǔn)要求都需求通過標(biāo)準(zhǔn)量測設(shè)備進(jìn)行驗(yàn)證產(chǎn)品的研發(fā)加工精度是否合格，在這過程中質(zhì)量檢測人員經(jīng)常會遇到二次元測量儀，2.5次元測量儀，等設(shè)備的概念，如剛接觸這些概念很難真實(shí)的理解差異。下面小編就來給我們講解下二次元形象測量儀與2.5次元測量儀的差異：

　　以線紋尺的刻度或光波波長作為已知長度，運(yùn)用機(jī)械測頭進(jìn)行接觸測量的光學(xué)長度測量東西。測長機(jī)具有能在3個坐標(biāo)內(nèi)移動和2個坐標(biāo)內(nèi)翻滾的可調(diào)工作臺，還帶有不同測頭和附件，常用于檢定大標(biāo)準(zhǔn)量塊和測量多種工件的內(nèi)、外標(biāo)準(zhǔn)。

　　一：測長機(jī)原理

　　1.標(biāo)準(zhǔn)器：選用高精度光柵系統(tǒng)作為反應(yīng)X軸向間隔的標(biāo)準(zhǔn)器；

　　2.測量原理：運(yùn)用頭座的測力并運(yùn)用測帽球面（針對平面物體測量-如量塊，校正桿，千分尺，卡規(guī)等）接觸被測平面，五軸工作臺的水平方向起浮，使得尾座測帽球面與被測件另一平面接觸；然后測得兩測帽球面頂點(diǎn)間的間隔；

　　運(yùn)用頭座的測力并運(yùn)用平面測帽的平面（針對圓周外徑測量，如光面塞規(guī)，針規(guī)及棒材）接觸被測平面，五軸工作臺的水平方向起浮，使得尾座測帽球面與被測件另一平面接觸；然后測得兩測帽平面間的間隔；

　　運(yùn)用頭座測力并運(yùn)用平面測帽接觸三針使三針與螺紋塞規(guī)螺紋槽中徑截面點(diǎn)接觸，得到平面測帽間的間隔，并加上三針針徑，運(yùn)用三針法核算得到螺紋單一中徑；

　　運(yùn)用T型測球與螺紋環(huán)規(guī)內(nèi)螺紋槽中徑截面點(diǎn)分別接觸，得到一組螺紋中截面中徑數(shù)據(jù)，并通過三針法核算得到螺紋單一中徑；

　　3.數(shù)據(jù)修改：通過測力修改系統(tǒng)及溫度修改系統(tǒng)將X軸向光柵反應(yīng)的數(shù)據(jù)進(jìn)行修改得到正確的X軸標(biāo)準(zhǔn)長度數(shù)值；

　　4.軟件標(biāo)準(zhǔn)及數(shù)據(jù)核算：軟件系統(tǒng)內(nèi)置多個標(biāo)準(zhǔn)，并通過對應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)的數(shù)據(jù)核算得到檢定所需數(shù)據(jù)（如螺紋的單一中徑，量塊的標(biāo)準(zhǔn)長度，光面規(guī)的真值等）。