半導(dǎo)體芯片可靠性測試一般是環(huán)境測試和壽命測試，主要就是溫度試驗(yàn)、濕熱試驗(yàn)等等（主要的測試設(shè)備是恒溫恒濕試驗(yàn)箱、冷熱沖擊試驗(yàn)箱、快速溫變?cè)囼?yàn)箱等），用來考驗(yàn)芯片的耐環(huán)境承受能力；而壽命測試主要包含工作和儲(chǔ)存測試，檢驗(yàn)產(chǎn)品經(jīng)過存放和使用后的功能和品質(zhì)是否正常。那么它的試驗(yàn)流程是怎么樣的呢？請(qǐng)看下方的圖片介紹哦~

       東莞市勤卓環(huán)境測試設(shè)備有限公司專業(yè)生產(chǎn)10余年，憑借*的技術(shù)優(yōu)勢和完善的售后服務(wù)，先后與中科院、中船重工、福特汽車、清華大學(xué)、比克電池等數(shù)千家企業(yè)和科研單位達(dá)成合作；且通過多年潛心研發(fā)和技術(shù)完善，勤卓環(huán)測出品的可程式高低溫恒溫恒濕試驗(yàn)箱、高低溫濕熱交變循環(huán)試驗(yàn)箱、高低溫冷熱交替沖擊試驗(yàn)箱、步入式環(huán)境試驗(yàn)室、非線性快溫變?cè)囼?yàn)箱、紫外線加速老化試驗(yàn)箱、淋雨防水試驗(yàn)箱、防塵粉塵試驗(yàn)箱、恒溫鼓風(fēng)干燥箱、鹽水噴霧腐蝕試驗(yàn)機(jī)、電磁模擬振動(dòng)臺(tái)等多種“精?；?環(huán)境測試設(shè)備，已然成為全國業(yè)界的信賴者。