一、華測高溫低電阻測試儀功能特點:
█ 多功能真空加熱爐,一體爐膛設計、可實現、高溫、真 空、氣氛環(huán)境下進行測試
█ 采用鉑材料作為導線、以減少信號衰減、提高測試精度;
█ 可以測量半導體薄膜材、薄片材料的電阻、電阻率;
█ 可實現常溫、變溫、恒溫條件的I-V、R-T等測量功能;
█ 溫度傳感器、PID自動溫度控制,使測量溫度更zhunque;
█ 儀器可自動計算試樣的電阻率pv;
█ 10寸觸摸屏設計,一體化設計機械結構,更加穩(wěn)定;
█ 程控電子升壓技術,紋波更低、TVS防護系統(tǒng),儀器安全性;
█ 99氧化鋁陶瓷絕緣、碳化鎢探針;
█ huace pro 控制分析軟件。
二、華測高溫低電阻測試儀技術參數:
1、溫度范圍:室溫-1000℃, (反射爐加溫 )配水冷機;
2、控溫精度:(溫控) ±0 5℃ ;
3、測量精度: ± 0.25℃;
4、升溫斜率:20℃/min (可設定);
5、降溫斜率: 1-200℃/min ( 自調整);
6、測量精度:0.5%;
7、樣品規(guī)格:直徑: 20mm 以內;厚度: 5mm以內;
8、電材料:鉑金;
9、測量方式:2 線- 4線測量方式;
10、測量范圍: 0.1uΩ- 100MΩ
11、供 電:220V±10%,50Hz;
12、工作環(huán)境:0℃ - 55℃;
13、存儲條件:- 40℃-70℃;
14、尺 寸:750mmX660mmX360mm;
15、重 量: kg 25
產品型號 | 溫度范圍 | 設備功能 |
HGTZ-901 | 室溫-800C° | 單組試樣;片狀樣品;四探針法;薄膜或薄片狀樣品;真空、氣氛環(huán)境 |
HGTZ-902 | 室溫-1200C° | 單組試樣;片狀樣品;四探針法;薄膜或薄片狀樣品;真空、氣氛環(huán)境 |
HGTZ-903 | 室溫-1450C° | 單組試樣;片狀樣品;四探針法;薄膜或薄片狀樣品;真空、氣氛環(huán)境 |
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