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推薦展會(huì)
測(cè)量泄漏電流有三種主要方法:
- 直接泄漏電流測(cè)量
- 等效泄漏電流測(cè)量
- 差分泄漏電流測(cè)量
直接泄漏法:
直接泄漏法與IEC 60601-1標(biāo)準(zhǔn)中使用的方法相同,用于測(cè)量人體模型(測(cè)量設(shè)備)對(duì)地的真實(shí)泄漏。
優(yōu)點(diǎn):
•測(cè)量操作設(shè)備上的真實(shí)泄漏電流。
•測(cè)量交流和直流泄漏電流的手段。
•與其他方法相比,度高。
•通過(guò)測(cè)量設(shè)備測(cè)量可能通過(guò)人體的泄漏電流。
•測(cè)量根據(jù)IEC 60601-1標(biāo)準(zhǔn)。
缺點(diǎn):
•構(gòu)成測(cè)量裝置的1KΩ電阻器會(huì)中斷低電阻接地導(dǎo)線,因此在測(cè)試故障設(shè)備時(shí)會(huì)造成潛在險(xiǎn)。
• 在測(cè)量過(guò)程中,EUT / DUT必須與大地電絕緣。 可以測(cè)量較低的泄漏電流值,因?yàn)椴⒎切孤┒伎梢栽诮拥貙?dǎo)體中測(cè)量。
•相線和中性線的極性差異可能會(huì)改變泄漏讀數(shù),因?yàn)檫@種泄漏測(cè)量必須在每個(gè)極性的電源中進(jìn)行
•TN(Terre -Neutral)系統(tǒng)需要確保在大對(duì)地電壓下完成測(cè)量。 中性線與地線之間的任何電壓都可能導(dǎo)致讀數(shù)較低,可能會(huì)不能檢測(cè)出故障設(shè)備。
等效測(cè)量方法:
等效方法實(shí)際上類似于測(cè)試符合IEC 60601的泄漏電流,同時(shí)在兩種極性下同時(shí)使用開(kāi)路中性單一故障條件進(jìn)行測(cè)量。使用絕緣測(cè)試方法(除了我們不測(cè)量直流電壓下的電阻,但測(cè)量50Hz時(shí)的泄漏)和電源電壓下的介電強(qiáng)度測(cè)試(使用工頻電流限制電壓源進(jìn)行測(cè)試)。
優(yōu)點(diǎn):
•由于帶電和中性相結(jié)合,電源極性不受影響。 只需要一個(gè)測(cè)量。
•一次性在兩極進(jìn)行快速有效的性測(cè)試(節(jié)省時(shí)間)
•與500VDC絕緣測(cè)試相比,等效泄漏測(cè)試類似于開(kāi)啟設(shè)備之前在50Hz主電源電壓下的真實(shí)泄漏特性。
•DUT與主電源斷開(kāi),從而為測(cè)試工程師提供了高度的安全性。
•由于免維護(hù)應(yīng)用程序,TN-System不是必需的。
•測(cè)量不受二次地線連接的影響。
•可以使用電池供電的儀器進(jìn)行測(cè)試。
•測(cè)量具有高度的可重復(fù)性,能夠很好地指示被測(cè)設(shè)備的電介質(zhì)情況。
缺點(diǎn):
•有源電路不會(huì)被激活,從而沒(méi)有實(shí)際泄漏電流在設(shè)備上。
•替代方法僅與IEC 60601開(kāi)放式中性SFC測(cè)試結(jié)果相當(dāng)。
差分法
差分泄漏法測(cè)量由于帶電導(dǎo)體和中性導(dǎo)體之間的電流不平衡而導(dǎo)致的泄漏電流。 總測(cè)量中包括潛在的二次接地連接,因此EUT不需要與地球隔離。 使用差分泄漏法難以測(cè)量小于75μA的低漏電流。 因此,差分泄漏法被認(rèn)為不適合測(cè)量導(dǎo)電未接地部件,并且在泄漏預(yù)計(jì)低于75μA的情況下。
優(yōu)點(diǎn):
•測(cè)量不受二次地線連接的影響。
•它測(cè)量總設(shè)備泄漏電流。
•測(cè)量設(shè)備(1KΩ電阻)不再與接地導(dǎo)體串聯(lián),因此提供低電阻保護(hù)性接地。
缺點(diǎn):
•差分泄漏測(cè)量不太適合測(cè)量較低的泄漏電流。(<100μA)
•測(cè)量受外部磁場(chǎng)或分析儀自身的內(nèi)部磁場(chǎng)影響,導(dǎo)致DUT的當(dāng)前頻率和高電流消耗。
•相線和中性線的極性差異可能會(huì)改變泄漏讀數(shù),因?yàn)檫@種泄漏測(cè)量必須在每個(gè)極性的電源中進(jìn)行
•直接和等效方法均可提供更高的度,以滿足測(cè)量低泄漏條件下的趨勢(shì)。
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ARCE2025亞洲機(jī)器人大會(huì)暨展覽會(huì)
展會(huì)城市:廣州市展會(huì)時(shí)間:2025-12-19