智能化介質(zhì)損耗測(cè)試儀產(chǎn)品用途

一、概說(shuō)
SXJS-IV型系列智能化介質(zhì)損耗測(cè)試儀是一種*的測(cè)量介質(zhì)損耗（tgδ）和電容容量（Cx）的儀器，用于工頻高壓下，測(cè)量各種絕緣材料、絕緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設(shè)備的介質(zhì)損耗（tgδ）和電容容量（Cx）。它淘汰了QSI高壓電橋，具有操作簡(jiǎn)單、中文顯示、打印，使用方便、無(wú)需換算、自帶高壓，抗*力強(qiáng)等優(yōu)點(diǎn)。SXJS-IV體積小、重量輕，是我廠的第三代智能化介質(zhì)損耗測(cè)試儀。
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二、技術(shù)指標(biāo)
1、環(huán)境溫度：0~40℃（液晶屏應(yīng)避免長(zhǎng)時(shí)日照）
2、相對(duì)濕度：30％~70％
3、供電電源：電壓：220V±10％，頻率50±1Hz
4、外形尺寸：長(zhǎng)×寬×高=4900mm×300mm×390mm
5、重量：約18kg
6、輸出功率：1KVA
7、顯示分辨率：4位
8、測(cè)量范圍：
介質(zhì)損耗（tgδ）：0-50％
電容容量（Cx）和加載電壓：
2.5KV檔：≤300nF（300000pF）
3KV檔：≤200nF（200000pF）
5KV檔：≤ 76nF（ 76000pF）
7.5KV檔：≤ 34nF（ 34000pF）
10 KV檔：≤ 20nF（ 20000pF）
9、基本測(cè)量誤差：
   介質(zhì)損耗（tgδ）：1％±0.07％（加載電流20μA~500mA）正接
介質(zhì)損耗（tgδ）：2％±0.09％（加載電流 5μA~ 20mA）反接
電容容量（ Cx ）：1.5%±1.5pF

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