東莞市貝爾試驗設(shè)備有限公司
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UL認證中鋰電池測試的部分項目：（1）測試項目：短路測試（BE-1000A或溫度型短路BE-1000W）實驗條件：在滿電條件下用小于100毫歐的導線使電池在常溫和60℃±2℃正負極短路。實驗要求：電池不爆炸，不起火電池實驗反應(yīng)：電池無爆炸，無起火。有電解液泄露現(xiàn)象。（2）測試項目：過充測試實驗條件：電池在滿電條件下以3C，10V恒流恒壓對電池進行充電，當電流達到100mA時，轉(zhuǎn)為恒壓充電至48小時。實驗要求：電池不爆炸，不起火。電池實驗反應(yīng)：電池鼓，有液體泄露。但無爆炸，無起火。（3）測試項目：
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1、附著力，常見的網(wǎng)格或交叉型。注意一點，ASTM和國標評級正好相反。一般ASTM3B以上，國標1以上2、硬度測試（鉛筆硬度計）：ASTM用的是三菱鉛筆，國標用的中華，這個按照不同廠家，底材，漆的類別，部位要求不同，從6B到9H（屏幕上的）。3、Taber耐摩擦試驗（Taber耐磨耗試驗機）：負荷500g，摩輪型號CS-10，CS-17三種評價方式：質(zhì)量損耗，磨損程度，是否露底，目前以多少圈露底為標準的比較多。舉例，N廠家涂層表面3500，按鍵8000，激光噴涂1000。4、RCA紙帶耐摩擦試驗
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快速升降溫試驗箱（高低溫試驗箱）的變溫速率有哪幾種試驗方法？
快速升降溫試驗箱（高低溫試驗箱）的變溫速率有兩種試驗方法:1、全程平均升降溫速度（即全程平均以N度的速率變化），2線形升降溫速度（即以每分鐘N度的速率變化）。全程平均升降溫速度：全程平均速度是指在試驗箱的變溫范圍內(nèi)，zui高溫度與zui低溫度之差值與時間之比，目前國外各環(huán)境試驗設(shè)備生產(chǎn)廠家提供的變溫速率的技術(shù)參數(shù)都是指的全程平均速率。2、線形升降溫速度：線形升降溫速度指在任意的每5min時間段內(nèi)，能夠保證的變溫速率。而實際上對于快速溫度變化高低溫試驗箱來說，保證線形升降溫速度的難度zui大、zu -
瓦楞紙箱抗壓強度的計算方法是怎樣的?瓦楞紙箱的強度標準，GB6543-86國家標準附錄G規(guī)定：瓦楞紙箱抗壓強度值P不應(yīng)小于按下式計算所得的值：P=K·G（H－h(huán)/h·s）（kgf/cm2）式中：K-強度保險系數(shù)；G-瓦楞紙箱所裝貨物重量，kgf；H-堆碼高度，cm；h-箱高，cm；S-箱底面積cm2。這個公式在實用中可以簡化為：P=K·G（n－1）式中：n-堆碼層數(shù)；K-根據(jù)貯存時間長短而定：＜30天1.6，30-100天1.65，100天以上2。但是有的教材把其定為3，這樣安全系數(shù)更大一些。如
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恒溫恒濕箱針對-40℃機型可以采用單級制冷循環(huán)，也可以采用復(fù)疊式制冷循環(huán)系統(tǒng)，但單級制冷循環(huán)是靠調(diào)小壓縮機的膨脹閥開啟度，減小制冷劑流量限流來調(diào)低蒸發(fā)壓力（約0.7個大氣壓），從而獲得更低的蒸發(fā)溫度的，這樣的設(shè)計是以犧牲系統(tǒng)的制冷量來達到的（制冷量約只有標準的0.7～0.8），導致制冷效率低并加大了壓縮機的負載，而且易引起壓縮機線圈過熱，影響了壓縮機的壽命。冷凍系統(tǒng)設(shè)計：獲取-20℃以下的低溫時均采用復(fù)疊式制冷循環(huán)系統(tǒng).先談?wù)劄楹銣睾銤裨囼炏浍@取低溫而采用兩級壓縮復(fù)疊制冷循環(huán)的原因：（1）單級壓
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高低溫試驗箱主要用于對產(chǎn)品按照國家標準要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、條件下，對產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進行環(huán)境模擬測試，測試后，通過檢測，來判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便供產(chǎn)品設(shè)計、改進、鑒定及出廠檢驗用。高低溫試驗箱的使用環(huán)境對它的工作效率有著直接的影響。怎樣提高它的工作效率，我給已經(jīng)使用和準備購買高低溫系列試驗箱的朋友在產(chǎn)品使用方面的一些建議，以供參考：1.環(huán)境溫度：15度—35度2.周圍無強烈振動3.無陽光直接照射或其他熱源直接輻射4.周圍無高濃度粉塵及腐蝕性物質(zhì)5.
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環(huán)境試驗與可靠性試驗的區(qū)別：環(huán)境試驗與可靠性試驗雖然關(guān)系緊密，但它們在試驗?zāi)康模铆h(huán)境應(yīng)力數(shù)量，環(huán)境力量值選用準則，試驗類型，試驗時間，試驗終止判據(jù)方面存在截然的不同之處。試驗?zāi)康模涵h(huán)境試驗考察的是產(chǎn)品對環(huán)境的適應(yīng)性，確定產(chǎn)品的環(huán)境適應(yīng)性設(shè)計是否符合合同要求，為接收，拒收提供決策依據(jù)。而可靠性試驗是定量評估產(chǎn)品的可靠性，即產(chǎn)品在規(guī)定環(huán)境條件下，規(guī)定時間內(nèi)完成規(guī)定功能的概率。所用環(huán)境應(yīng)力數(shù)量：就環(huán)境試驗來說，GJB150中規(guī)定了19個試驗項目，MIL-STD-810D中規(guī)定了20個環(huán)境試驗項目，
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為什么要在老化時進行測試:在老化階段進行半導體測試之所以有意義有多種原因，在探討這些原因之前，我們首先要明確“測試”的真正含義。一般半導體測試要用到昂貴的高速自動測試設(shè)備，在一個電性能條件可調(diào)的測試臺上對半導體作測試。它還可以在標稱性能范圍之外進行，完成功能（邏輯）和參數(shù)（速度）方面的測試，像信號升降時間之類的參數(shù)可到皮秒級。也許是因為可控測試環(huán)境只有一個器件作為電性負載，所以信號轉(zhuǎn)換很快，能夠進行真實的器件響應(yīng)參數(shù)測量。但在老化的時候，為提高產(chǎn)品的產(chǎn)量是能夠同時對盡可能多的器件作老化。為滿足這
