應(yīng)用范圍 X-4數(shù)顯顯微熔點(diǎn)儀測定物質(zhì)的熔點(diǎn)。用于藥物、化工、紡織、染料等晶體有機(jī)化合物之測定,顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測定,又可用載玻片-蓋玻片法(熱臺法)測定。 X-4數(shù)顯顯微熔點(diǎn)儀物質(zhì)的熔點(diǎn)是指該物質(zhì)由固態(tài)變?yōu)橐簯B(tài)時的溫度。在有機(jī)化學(xué)領(lǐng)域中,熔點(diǎn)測定是辨認(rèn)該物質(zhì)本性的基本手段,也是純度測定的重要方法之一。 X-4數(shù)顯顯微熔點(diǎn)儀本儀器可用載波片方法測定物質(zhì)的熔點(diǎn)、形變、色變等;也可用藥典規(guī)定的毛細(xì)管方法測其熔點(diǎn),尤其對深色樣品,如醫(yī)藥中間體、顏料、橡膠促進(jìn)劑等的熔點(diǎn),并能自始自終觀察到其熔化的全過程。 性能指標(biāo) 熔點(diǎn)測量范圍:室溫至320℃ 測量重復(fù)性:±1℃(在<200℃時) X-4 X-4A X-4B 溫度顯示zui小值 1℃ 0.1℃ 0.1℃ 熔點(diǎn)觀察方式 單目顯微鏡 單目顯微鏡 雙目體視顯微鏡 光學(xué)放大倍數(shù) 40倍 40倍 連續(xù)變倍40倍-100倍
±2℃(在200~300℃時)
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