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      • 冠層分析系統(tǒng)

        通過測量作物冠層PAR值提供了關(guān)于影響田間作物生長的限制因素的有價值的信息,如葉面積指數(shù)(LAI);SunScan探測器也可被用來描繪作物冠層PAR的分布圖。

        型號: SunScan 所在地:國外參考價: 面議更新時間:2022/2/13 18:07:03 對比
        SunScan冠層分析系統(tǒng)

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