當(dāng)前位置：東莞市海恒試驗(yàn)儀器設(shè)備有限公司>>>>二廂式冷熱沖擊試驗(yàn)箱,高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱,兩箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱-海恒儀器

二廂式冷熱沖擊試驗(yàn)箱,高低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱,兩箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱-海恒儀器

返回列表頁(yè)

參考價(jià)

面議

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號(hào)

品牌

廠商性質(zhì)其他

所在地

在線詢價(jià) 收藏產(chǎn)品查看聯(lián)系電話

聯(lián)系方式：查看聯(lián)系方式

更新時(shí)間：2022-12-29 11:07:05瀏覽次數(shù)：322次

聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)告知來(lái)自智能制造網(wǎng)

產(chǎn)品分類 品牌分類

  鹽霧試驗(yàn)箱系列

暫無(wú)信息

東莞市海恒試驗(yàn)儀器設(shè)備有限公司

經(jīng)營(yíng)模式：其他

商鋪產(chǎn)品：27條

所在地區(qū)：

詢價(jià) 給他留言

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

詳細(xì)介紹

試驗(yàn)說(shuō)明：
本試驗(yàn)箱用來(lái)測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，藉以在短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害，達(dá)到驗(yàn)證及提高產(chǎn)品的可靠性的試驗(yàn)?zāi)康摹?br/>
用途：
冷熱沖擊試驗(yàn)箱用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)，國(guó)防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機(jī)械的組件，無(wú)一不需要它的理想測(cè)試工具.

產(chǎn)品特性：
1、產(chǎn)品外形美觀、結(jié)構(gòu)合理、工藝*、選材考究，具有簡(jiǎn)單便利的操作性能和可靠的設(shè)備性能。
2、設(shè)備分為高溫箱,低溫箱,測(cè)試箱三部分,采之?dāng)酂峤Y(jié)構(gòu)及蓄熱蓄冷效果，試驗(yàn)時(shí)待測(cè)物靜止，應(yīng)用冷熱風(fēng)路切換方式將冷,熱溫度導(dǎo)入測(cè)試區(qū)實(shí)現(xiàn)冷熱沖擊測(cè)試目的。
3、可獨(dú)立設(shè)定高溫、低溫及冷熱沖擊三種不同條件之功能，并于執(zhí)行冷熱沖擊條件時(shí),可選擇二槽式或三槽式及冷沖、熱沖進(jìn)行沖擊之功能，具備高低溫試驗(yàn)機(jī)的功能。
4、采用采用進(jìn)的計(jì)測(cè)裝置, 控制器采用大型彩色液晶人機(jī)觸控對(duì)話式LCD人機(jī)接口控制器,操作簡(jiǎn)單, 學(xué)習(xí)容易, 穩(wěn)定可靠,中，英文顯示完整的系統(tǒng)操作狀況、執(zhí)行及設(shè)定程序曲線。
5、具備全自動(dòng)，高精密系統(tǒng)回路、任一機(jī)件動(dòng)作，有P.L.C鎖定處理，全部采用P.I.D自動(dòng)演算控制,溫度控制精度高.
6、*科學(xué)的空氣流通循環(huán)設(shè)計(jì)，使室內(nèi)溫度均勻，避免任何死角;完備的安全保護(hù)裝置，避免了任何可能發(fā)生的安全隱患，保證設(shè)備的長(zhǎng)期可靠性。
7、可設(shè)定循環(huán)次數(shù)及除霜次數(shù)自動(dòng)（手動(dòng)）除霜.
8、冷凍系統(tǒng)采用復(fù)迭低溫回路系統(tǒng)設(shè)計(jì)，冷凍機(jī)組采用歐美壓縮機(jī)，并采用對(duì)臭氧系數(shù)為零的綠色環(huán)保（HFC）制冷劑R404，R23。

冷熱沖擊試驗(yàn)箱滿足標(biāo)準(zhǔn)
1.GJB150.3-86　　高溫試驗(yàn)
2.GJB150.4－86　低溫試驗(yàn)方法
3.GJB150.5－86　溫度沖擊試驗(yàn)
4. GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備
5. GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法
6. GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法
7. GB2424.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則