性能指標(biāo)    

    注解： 周圍溫度為25℃時(shí)，在無試驗(yàn)負(fù)荷情況下穩(wěn)定後測定的性能。

    另外，關(guān)於溫度上升及下降時(shí)間是指電源電壓正常，周圍溫度+25℃時(shí)測得性能

 1.溫度範(fàn)圍:－40℃～150℃

2.溫度波動(dòng):±0.5℃

3.溫度均勻:±1.5℃.  

4.溫度不低于:－40℃

5.升溫時(shí)間:0～100℃  25min約（非線性）

6.降溫時(shí)間:0～-40℃  60min約（非線性）

    7.濕度範(fàn)圍:20～98%

    8.濕度波動(dòng):±1.5%

1. 濕度均勻:±2.0%

  溫濕度控制範(fàn)圍（如圖）:

滿足標(biāo)準(zhǔn) 

GB-2423.1-89（IEC68-2-1）試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法。

GB-2423.2-89（IEC68-2-2）試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法。

GJB360.8-87（MIL-STD-202F）高溫壽命試驗(yàn)。

GBJ150.3(MIL-STD-810D)高溫試驗(yàn)方法。

GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗(yàn)方法。

GB/T 2423.2-2008試驗(yàn)B《高溫試驗(yàn)方法》

GB/T 2423.3-2006試驗(yàn)C《恒定濕熱方法》

GB/T 10586-2006《濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件》

GB10586-89濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB10586-89低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB/T10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB11158 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB2423.1-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法

GB2423.2-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A：高溫試驗(yàn)方法

GB/T2423.3-93電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ca恒定濕熱試驗(yàn)方法

GB/T2423.4-93 交變濕熱試驗(yàn)方法

GB/T2423.22-2001 溫度變化試驗(yàn)方法

IEC60068-2-1.1990 低溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法

IEC60068-2-2.1974 高溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法