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      東莞市愛佩試驗設(shè)備有限公司

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      多功能濕熱試驗箱老化箱
      參考價: 面議
      具體成交價以合同協(xié)議為準
      • 產(chǎn)品型號
      • 品牌
      • 0 廠商性質(zhì)
      • 東莞市 所在地

      訪問次數(shù):138更新時間:2022-06-28 11:47:02

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      恒溫恒濕試驗箱

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      聯(lián)人:
      賴明生

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      產(chǎn)品簡介
      多功能濕熱試驗箱老化箱設(shè)備介紹:多功能濕熱試驗箱老化箱控制系統(tǒng)特點:7英寸超大觸摸AP-900智能可程序溫濕度控制器:120組程序,每組程序100段,可以設(shè)置程序全部循環(huán),部分循環(huán),程序連接,設(shè)定程序終了動作,設(shè)定待機動作
      產(chǎn)品介紹



        多功能濕熱試驗箱老化箱

        設(shè)備介紹:

        多功能濕熱試驗箱老化箱控制系統(tǒng)特點:7英寸超大觸摸AP-900智能可程序溫濕度控制器:120組程序,每組程序100段,可以設(shè)置程序全部循環(huán),部分循環(huán),程序連接,設(shè)定程序終了動作,設(shè)定待機動作??蒛SB連接U盤實時記錄試驗數(shù)據(jù),導出試驗歷史數(shù)據(jù),導入圖片。標配RS232通信界面,通信速度115200bps,(可選配RS485,通訊距離最長1.2km,最多可以連接99臺)。

        多功能濕熱試驗箱老化箱技術(shù)參數(shù):

        型號:AP-HX-150B3 (愛佩溫度范圍選擇A:0℃、B:-20℃、C:-40℃、、D:-60℃、E:-70℃~150℃)

        1、溫度范圍:-20℃~150℃

        2、濕度范圍:20%~98%

        3、控制穩(wěn)定度:溫度:±0.5℃ 濕度:±2.0%RH

        4、分布均勻度:溫度:±2.0℃ 濕度:±2.5%RH

        5、波動度:溫度:±1.0℃ 濕度:±2.0%RH

        6、解析進度:溫度:0.01℃ 0.1%

        7、升溫時間:3℃∕分鐘

        8、降溫時間:1℃∕分鐘

        9、性能:指氣冷式在室溫20℃,或水冷式水溫在25℃,空載時

        10、可非標定制規(guī)格,下單:。

        結(jié)構(gòu)與材質(zhì)

        1、內(nèi)箱尺寸:H600×W500×D500(mm)

        2、外箱尺寸:H1700×W1020×D870(mm)

        3、內(nèi)箱材質(zhì):SUS#304鏡面不銹鋼板

        4、外箱材質(zhì):高級冷軋板噴塑烤漆

        5、保 溫 層:聚氨酯發(fā)泡

        6、機器腳架:爐底裝有活動輪4只,平水腳4只

        7、單門,左開門,把手在右邊

        7、真空玻璃窗 280X350mm

        8、箱內(nèi)裝有9W進口日光燈

        9、運風機:60W加長軸馬達配多翼式風輪壹套

        10、加熱器:鰭片式散熱管形不銹鋼電熱器

        11、爐內(nèi)附件:可調(diào)式層格式2套,配不銹鋼置物架2個

        12、測試孔:機身左側(cè)50mm孔1只,附不銹鋼蓋1只

        13、控制面板

        14、照明式壓扣開關(guān) 2只

        15、溫度控制器1個

        16、電源總開關(guān)1個

        多功能濕熱試驗箱老化箱滿足以下標準:

        GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件;GB/T 10586 -2006 濕熱試驗箱技術(shù)條件;GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法試驗A:低溫;GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫;GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法試驗Cab:恒定濕熱試驗;GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法試驗Db:交變濕熱(12h + 12h循環(huán));GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 總則;GJB 150.3A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3部分:高溫試驗;GJB 150.4A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分:低溫試驗;GJB 150.9A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第9部分:濕熱試驗。


         

         

         

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