HAST高壓加速老化試驗箱 抗?jié)駳鉂B透能力
?一、核心用途?
?加速材料老化?:模擬高溫、高濕、高壓環(huán)境,快速暴露材料缺陷(如開裂、褪色、性能下降),縮短自然老化周期至數(shù)小時或數(shù)天?
?密封性與耐候性測試?:評估電子元器件、封裝材料的抗?jié)駳鉂B透能力(如半導(dǎo)體封裝爆米花效應(yīng)、金屬腐蝕失效)?
?可靠性驗證?:檢測汽車部件(密封件、線束)、塑料制品在嚴苛條件下的耐久性,預(yù)測長期使用穩(wěn)定性?
?二、箱體結(jié)構(gòu)與材質(zhì)?
?主體結(jié)構(gòu)?
?控制系統(tǒng)?:集成PID溫濕度調(diào)節(jié)模塊,支持多段編程(溫度范圍110℃~150℃、濕度70%~100%RH)?
?壓力系統(tǒng)?:采用機械+電子雙重安全閥,壓力范圍0.2~0.5MPa(非飽和型)或2.1atm(飽和PCT型)?
?循環(huán)系統(tǒng)?:內(nèi)置離心風(fēng)機,確保溫濕度均勻分布(偏差≤±1℃/±3%RH)?
?核心材質(zhì)?
?內(nèi)膽?:304不銹鋼或鎳基合金,防腐蝕處理,耐受長期高溫高壓蒸汽侵蝕?
?外殼?:冷軋鋼板噴涂耐高溫環(huán)氧涂層,隔熱層填充陶瓷纖維,降低能耗?
。?密封組件?:硅橡膠密封條+氣動鎖緊裝置,確保箱體氣密性(漏氣率<0.05kPa/min)?
三、典型應(yīng)用領(lǐng)域
行業(yè)? | ?應(yīng)用場景? | ?測試目標(biāo)? |
?半導(dǎo)體/電子? | IC封裝、PCB多層板、磁性材料 | 濕氣滲透導(dǎo)致的分層、短路及金屬腐蝕失效?。 |
?汽車工業(yè)? | 線束、密封膠條、ECU控制器 | 高溫高壓下密封性退化、材料形變及電氣性能衰減?。 |
?材料科研? | 高分子材料(EVA、工程塑料)、金屬涂層 | 濕熱環(huán)境下的水解、氧化及機械強度變化?。 |
?新能源與軍工? | 光伏組件、航天密封件、**電子設(shè)備 | 惡劣環(huán)境(如熱帶氣候、高空低壓)下的長期可靠性驗證? |
?四、設(shè)備選型要點?
?測試模式?:非飽和型(HAST)適用于溫濕度循環(huán)測試,飽和型(PCT)專注密封性評估?
?容量適配?:標(biāo)準(zhǔn)工作室尺寸450×450×500mm,大容積可定制(如1000×1000×1000mm)?
?安全合規(guī)?:需符合GB/T 2423.3、IEC 60068-2-66等標(biāo)準(zhǔn),配備超壓自動泄壓及故障報警功能?