光學(xué)窗口片是光學(xué)系統(tǒng)的前置保護(hù)片，主要可用于CCD/CMOS芯片的封裝、可拍照手機(jī)鏡頭上的保護(hù)、數(shù)碼相機(jī)OVF的保護(hù)、激光二極管上的蓋片等。

光學(xué)窗口片檢測的基本原理

光學(xué)窗口片中的各種雜質(zhì)，在光學(xué)特性上必然與光學(xué)窗口片本身有差異。當(dāng)光線入射光學(xué)窗口片后，各種雜質(zhì)會(huì)在反射、折射等方面表現(xiàn)出與周圍光學(xué)窗口片不同的異樣。例如，當(dāng)均勻光垂直入射光學(xué)窗口片時(shí)，如光學(xué)窗口片中沒有雜質(zhì)，出射的方向不會(huì)發(fā)生改變，所探測到的光也是均勻的；當(dāng)光學(xué)窗口片中含有雜質(zhì)時(shí)，出射的光線就會(huì)發(fā)生變化，所探測到的圖像也要隨之改變。由于雜質(zhì)的存在，在其周圍就發(fā)生了應(yīng)力集中及變形，在圖像中也容易觀察。若遇到光透射型缺陷（如裂紋、氣泡等），光線在該缺陷位置會(huì)發(fā)生折射，光的強(qiáng)度比周圍的要大，因而相機(jī)靶面上探測到的光也相應(yīng)增強(qiáng)；若遇到光吸收型（如砂粒等）雜質(zhì)，則該缺陷位置的光會(huì)變?nèi)?，相機(jī)靶面上探測到的光比周圍的光要弱。分析相機(jī)采集到的圖像信號的強(qiáng)弱變化、圖像特征，便能獲取相應(yīng)的缺陷信息。

光學(xué)窗口片檢測設(shè)備簡介

光學(xué)窗口片檢測設(shè)備是基于光學(xué)窗口片產(chǎn)品的生產(chǎn)現(xiàn)狀，對現(xiàn)有勞動(dòng)力密集的人工品質(zhì)檢測工藝環(huán)節(jié)進(jìn)行自動(dòng)化改造，通過研究設(shè)計(jì)一款光學(xué)窗口片表面品質(zhì)自動(dòng)化檢測和分揀設(shè)備來替代人工檢測。本項(xiàng)目研發(fā)設(shè)計(jì)內(nèi)容主要由表面缺陷自動(dòng)識別系統(tǒng)設(shè)計(jì)、物流傳送系統(tǒng)及聯(lián)動(dòng)控制設(shè)計(jì)，正次品分揀機(jī)械手設(shè)計(jì)等三個(gè)部分組成。

通過該設(shè)備的成功實(shí)施預(yù)期能實(shí)現(xiàn)光學(xué)窗口片表面品質(zhì)缺陷特征的自動(dòng)識別、正次品自動(dòng)分揀、檢測精度達(dá)到10微米、檢測速度到180片/分鐘的目標(biāo)。