半導體粉末電阻率測試儀器儀表現(xiàn)貨M236223

儀器的電流輸出為 10 μA - mA ，電阻率測試范圍為 10 -2 - 10 5 Ω cm ，直接采用數(shù)字顯示。適用于有機、無機半導體粉末材料(包括納米級)的電阻率測量, 也可以測量固體半導體材料，適合于太陽能多晶硅、硅粉質(zhì)量的測量、分選和質(zhì)量控制. 電阻率值直接數(shù)字顯示由具有高加壓系統(tǒng), 高度測量的測試臺和儀器組成.儀器主要包括電氣箱和測試架兩部分，電氣測試部分由高直流數(shù)字電壓表和直流恒定電流源組成。測試架為壓力傳感器， 加壓和粉末標準容器組成。壓力采用手動操作、壓力平穩(wěn)。本儀器具有測量高，性好，重復性好，使用方便等特點， 并有自校功能。本儀器適用于碳素廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門、是檢驗和分析固態(tài)、粉態(tài)和納米樣品質(zhì)量的一種重要工具。FZ-2006型半導體粉末電阻率測試儀本儀器是為了適應當前迅速發(fā)展中的高分子半導電納米材料電阻率測試需要,參照有關(guān)標準設(shè)計的。 儀器的電流輸出為 10 μA - mA ，電阻率測試范圍為 10 -2 - 10 5 Ω cm ，直接采用數(shù)字顯示。儀器的性和性大大增強，更方便于用戶， 而且價格低廉、實惠。配置不同的測試架可以對半導體粉末、高分子納米粉末和固態(tài)金屬進行電阻、電阻率多用途的測量。適用于有機、無機半導體粉末材料(包括納米級)的電阻率測量, 也可以測量固體半導體材料，適合于太陽能多晶硅、硅粉質(zhì)量的測量、分選和質(zhì)量控制. 電阻率值直接數(shù)字顯示由具有高加壓系統(tǒng), 高度測量的測試臺和儀器組成.儀器主要包括電氣箱和測試架兩部分，電氣測試部分由高直流數(shù)字電壓表和直流恒定電流源組成。測試架為壓力傳感器， 加壓和粉末標準容器組成。壓力采用手動操作、壓力平穩(wěn)。本儀器具有測量高，性好，重復性好，使用方便等特點， 并有自校功能。本儀器采用通用的電流-電壓降法即四端子測量法，可以消除電極與粉末接觸產(chǎn)生的接觸電阻，還可以消除聯(lián)接系統(tǒng)所帶來的， 克服了以往傳統(tǒng)的二端測量粉末電阻率儀器的弊病，真實、準確地測量出粉末樣品的電阻率，因此重復性好。本儀器適用于碳素廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門、是檢驗和分析固態(tài)、粉態(tài)和納米樣品質(zhì)量的一種重要工具。主要指標：測量范圍：電阻 10-4 - 105 Ω, 分辨率 10-4 Ω電阻率 10-4 - 105 Ω.cm，分辨率 10-4 Ω.cm測量 ±（0.3% 讀數(shù) + 2 字）測量電壓量程：20mV, 200mV, 2V，分辨率 10 μV測量: ±（0.3% 讀數(shù) + 2 字）測量電流：0 - mA 連續(xù)可調(diào)，電流量程：10 μA, μA, 1 mA, 10 mA, mA試樣粒度：40 目以下 - 60 目以上（標準篩網(wǎng)）納米粉末試樣容器：內(nèi)腔Φ16.30 ± 0.1mm試樣高度：16mm ± 0.5mm測量：±0.1mm取樣壓力：4 Mpa ± 0.05 Mpa ( 40 kg/cm2 ± 0.5 kg/cm2)壓力量程：0 - kg 可調(diào)顯示方式: 電阻、電阻率、壓力為 3 1/2 數(shù)字顯示,并自動顯示單位和小數(shù)點電源：220 ± 10% , 50HZ-60HZ, 功率消耗 < 150W 消耗外形尺寸電氣箱：440mm×120mm×320mm備有粉末測試架和固態(tài)標準樣品測試臺供選用

半導體粉末電阻率測試儀器儀表現(xiàn)貨M236223