低頻介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試系統(tǒng)（20HZ-1MHZ）型號(hào):HH12-AS2878庫號(hào)：M408302  

AS2878主機(jī)參數(shù)  

ε和D性能：  

固體緣材料測試頻率20Hz～1MHz/20Hz～2MHz/20Hz～5MHz的ε和D變化的測試。  

ε和D測量范圍：ε：1～105，D：0.1～0.00005，  

ε和D測量（10kHz）：ε：±2%，D：±5%±0.0001。  

測試參數(shù):C,L,R,Z,Y,X,B,G,D,Q,θ,DCR  

測試頻率:20Hz～5MHz,10mHz步進(jìn)  

測試信號(hào)電平:f≤1MHz10mV～5V,±（10%+10mV），f>1MHz10mV～1V,±（20%+10mV)  

輸出阻抗:10Ω,30Ω,50Ω,100Ω  

基本準(zhǔn)確度;0.1%  

顯圍:  

L0.0001uH～9.9999kH  

C:0.0001pF～9.9999F  

R,X,Z,DCR:0.0001Ω～99.999MΩ  

Y,B,G0.0001nS～99.999S  

D:0.0001～9.9999  

Q:0.0001～99999  

θ:-179.99°～179.99°  

測量速度;快速:200次/s（f﹥30kHz）,100次/s（f﹥1kHz）  

中速:25次/s,慢速:5次/s  

校準(zhǔn)功能:開路/短路點(diǎn)頻、掃頻清零，負(fù)載校準(zhǔn)  

等效方式:串聯(lián)方式,并聯(lián)方式  

量程方式:自動(dòng),保持  

顯示方式:直讀,Δ,Δ%  

觸發(fā)方式:內(nèi)部,手動(dòng),外部,總線  

內(nèi)部直流偏:電壓模式-5V～+5V,±(10%+10mV),1mV步進(jìn)  

置源:電流模式（內(nèi)阻為50Ω）-100mA～+100mA,±(10%+0.2mA),20uA步進(jìn)  

比較器功能:10檔分選及計(jì)數(shù)功能  

顯示器;7寸LCD顯示  

存儲(chǔ)器:可保存20組儀器設(shè)定值  

USBDEVICE(USBTMCandUSBCDCsupport)USBHOST(FAT16andFAT32support)  

接口:LAN(LXIclassCsupport)RS232CHANDLERGPIB（選件）  

工作頻率范圍：20Hz～5MHz數(shù)字合成，  

±0.02%  

電容測量范圍：0.00001pF～9.99999F六位數(shù)顯  

電容測量基本：±0.05%  

損耗因素D值范圍：0.00001～9.99999六位數(shù)顯  

介電常數(shù)測試裝置（含保護(hù)電極）：介電常數(shù)測試裝置提供測試電極，能對(duì)直徑φ6～50mm，厚度<14mm的試樣測量。  

它針對(duì)不同試樣可設(shè)置為接觸電極法，薄膜電極法和非接觸法三種，以適應(yīng)軟材料，表面不平整和薄膜試樣測試。  

微分頭分辨率：10μm  

耐壓：±42Vp（AC+DC）  

電纜長度設(shè)置：1m  

使用頻率：5MHz  

2S916（數(shù)顯）介電常數(shù)εr和介質(zhì)損耗因數(shù)tanδ測試裝置：  

固體：材料測量直徑Φ38mm；厚度可調(diào)≥15mm  

液體：測量極片直徑Φ38mm；液體杯內(nèi)徑Φ48mm、深7mm（選配）