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上海舜建儀器有限公司
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更新時(shí)間：2024-03-01 12:01:32瀏覽次數(shù)：100次
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FPD/LSI檢查顯微鏡ECLIPSE L300ND、L300N和L200ND、L200N，這一系列半導(dǎo)體顯微鏡是檢測(cè)集成電路（IC）、平板顯示器（FPD）、大規(guī)模集成（LSI）電子設(shè)備和許多其他應(yīng)用的理想選擇。
FPD/LSI檢查顯微鏡ECLIPSE L300ND、L300N和L200ND、L200N用于檢查大型樣品的高級(jí)顯微鏡
采用尼康CFI60-2光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)，成像清晰；可搭配數(shù)碼相機(jī)。
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尼康ECLIPSE L300N(D)和L200N(D) 用于硅片（L200N系列為200mm，L300N系列為300mm）、分劃板和其它大型平板類電子零部件的光學(xué)檢查。 | 尼康CFI60-2光學(xué)系列 尼康的創(chuàng)新設(shè)計(jì)，支持實(shí)現(xiàn)清晰的、高對(duì)比度的明場(chǎng)、暗場(chǎng)、熒光、偏光（POL）、微分干涉（DIC）鏡檢，以及雙光束干涉測(cè)量。 |
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尼康Digital Sight數(shù)碼相機(jī) 尼康全系列Digital Sight數(shù)碼相機(jī)都能高效地進(jìn)行拍照，并可將當(dāng)前在用物鏡、倍率轉(zhuǎn)換設(shè)置和照明光亮度等參數(shù)一起傳送到NIS-Elements顯微鏡圖像處理軟件中。 | L200N與NWL200聯(lián)合使用 在半導(dǎo)體行業(yè)中得到廣泛認(rèn)可和信任，目前有許多裝置在使用。 |
FPD/LSI檢查顯微鏡產(chǎn)品亮點(diǎn)
尼康CFI60-2光學(xué)系統(tǒng)
尼康的創(chuàng)新設(shè)計(jì)光學(xué)系統(tǒng)成像清晰，支持多種顯微鏡鏡檢。
反射照明下可選擇的鏡檢方式有：明場(chǎng)、暗場(chǎng)、偏光（POL）、微分干涉（DIC）、熒光和雙光束干涉；
多種鏡檢方式
透射照明下可選擇的鏡檢方式有：明場(chǎng)、暗場(chǎng)、偏光（POL）、微分干涉（DIC）和相差。
數(shù)字化智能通信
顯微鏡通過(guò)USB與尼康NIS Elements軟件相連，可檢查并控制物鏡轉(zhuǎn)換、照明亮度、光闌動(dòng)作等。
人體工學(xué)設(shè)計(jì)
使用傾角可調(diào)的目鏡筒，可使操作者更為舒適地觀察樣品，消除疲勞。
主要用于觀察原材料、半導(dǎo)體和工業(yè)零部件。
FPD/LSI檢查顯微鏡規(guī)格參數(shù)
FPD/LSI檢查顯微鏡應(yīng)用行業(yè)
主要用途集中在電子通訊領(lǐng)域的零部件檢查，如硅片、液晶顯示屏等。反射熒光*可用來(lái)有效地檢查光刻膠殘留，檢查有機(jī)EL顯示屏。
*僅L300N/L300ND/L200ND
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