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      行業(yè)產(chǎn)品

      • 行業(yè)產(chǎn)品

      成都中冷低溫科技有限公司


      經(jīng)營(yíng)模式:生產(chǎn)廠家

      商鋪產(chǎn)品:100條

      所在地區(qū):四川成都市

      聯(lián)系人:羅林 (市場(chǎng)部)

      • 機(jī)架式直冷型制冷機(jī)

        詳細(xì)摘要: 機(jī)架式直冷型制冷機(jī),是一種用于控制溫度的設(shè)備,通常用于工業(yè)和商業(yè)應(yīng)用中。這種溫控器采用直冷技術(shù),具有較高的冷卻效率和穩(wěn)定性,能夠?qū)崿F(xiàn)精確的溫度控制。機(jī)架式直冷型...

        產(chǎn)品型號(hào):所在地:成都市更新時(shí)間:2025-03-05 在線留言

      • 可替 Max TC高低溫盤(pán)桌面式溫度迫使系統(tǒng)

        詳細(xì)摘要: 可替 Max TC高低溫盤(pán)桌面式溫度迫使系統(tǒng),接觸式高低溫設(shè)備是成都中冷研發(fā)的針對(duì)芯片可靠性測(cè)試的專用設(shè)備,通過(guò)測(cè)試頭與待測(cè)器件直接貼合的方式實(shí)現(xiàn)能量傳遞,與傳...

        產(chǎn)品型號(hào):以色列Mechanical Devices所在地:成都市更新時(shí)間:2025-03-05 在線留言

      • 可替代Max TC 接觸式高低溫強(qiáng)迫系統(tǒng)

        詳細(xì)摘要: 可替代Max TC 接觸式高低溫強(qiáng)迫系統(tǒng),接觸式高低溫設(shè)備是成都中冷研發(fā)的針對(duì)芯片可靠性測(cè)試的專用設(shè)備,通過(guò)測(cè)試頭與待測(cè)器件直接貼合的方式實(shí)現(xiàn)能量傳遞,與傳統(tǒng)氣...

        產(chǎn)品型號(hào):所在地:成都市更新時(shí)間:2025-03-05 在線留言

      • 臺(tái)式芯片高低溫測(cè)試機(jī)接觸式氣流儀

        詳細(xì)摘要: 臺(tái)式芯片高低溫測(cè)試機(jī)接觸式氣流儀,接觸式高低溫設(shè)備是成都中冷研發(fā)的針對(duì)芯片可靠性測(cè)試的專用設(shè)備,通過(guò)測(cè)試頭與待測(cè)器件直接貼合的方式實(shí)現(xiàn)能量傳遞,與傳統(tǒng)氣流式高低...

        產(chǎn)品型號(hào):所在地:成都市更新時(shí)間:2025-03-05 在線留言

      • 接觸式氣流儀高低溫沖擊測(cè)試設(shè)備替代Max TC

        詳細(xì)摘要: 接觸式氣流儀高低溫沖擊測(cè)試設(shè)備替代Max TC,接觸式高低溫設(shè)備是成都中冷研發(fā)的針對(duì)芯片可靠性測(cè)試的專用設(shè)備,通過(guò)測(cè)試頭與待測(cè)器件直接貼合的方式實(shí)現(xiàn)能量傳遞,與...

        產(chǎn)品型號(hào):ATC系列所在地:成都市更新時(shí)間:2025-03-05 在線留言

      • 桌面型高低溫沖擊設(shè)備熱流儀zonglen

        詳細(xì)摘要: 桌面型高低溫沖擊設(shè)備熱流儀zonglen,接觸式高低溫設(shè)備是成都中冷研發(fā)的針對(duì)芯片可靠性測(cè)試的專用設(shè)備,通過(guò)測(cè)試頭與待測(cè)器件直接貼合的方式實(shí)現(xiàn)能量傳遞,與傳統(tǒng)氣...

        產(chǎn)品型號(hào):所在地:成都市更新時(shí)間:2025-03-05 在線留言

      • Thermal Inducing System高低溫?zé)崃鲀xTS780

        詳細(xì)摘要: Thermal Inducing System高低溫?zé)崃鲀xTS780,溫度變化速率快,-55℃至+125℃之間轉(zhuǎn)換約10秒。

        產(chǎn)品型號(hào):所在地:成都市更新時(shí)間:2025-03-05 在線留言

      • 循環(huán)制冷機(jī)半導(dǎo)體高低溫測(cè)試Chiller

        詳細(xì)摘要: 循環(huán)制冷機(jī)半導(dǎo)體高低溫測(cè)試Chiller,適合元器件測(cè)試用設(shè)備,在用于惡劣環(huán)境的半導(dǎo)體電子元件的制造中,IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測(cè)試階段包括在多種溫度下的電子...

        產(chǎn)品型號(hào):所在地:成都市更新時(shí)間:2025-03-05 在線留言

      • Semiconductor Chiller半導(dǎo)體溫控機(jī)

        詳細(xì)摘要: Semiconductor Chiller半導(dǎo)體溫控機(jī),本設(shè)備是一款水冷型冷水機(jī),具有定時(shí)運(yùn)轉(zhuǎn)、液面下降、停電復(fù)歸、水泵防凍結(jié)、可實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)程控制、可進(jìn)行觸摸屏操控...

        產(chǎn)品型號(hào):所在地:成都市更新時(shí)間:2025-03-05 在線留言

      • Low Temperature Chillers半導(dǎo)體控溫裝置

        詳細(xì)摘要: Low Temperature Chillers半導(dǎo)體控溫裝置,是一款水冷型冷水機(jī),具有定時(shí)運(yùn)轉(zhuǎn)、液面下降、停電復(fù)歸、水泵防凍結(jié)、可實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)程控制、可進(jìn)行觸摸屏操...

        產(chǎn)品型號(hào):所在地:成都市更新時(shí)間:2025-03-05 在線留言

      • 半導(dǎo)體冷水機(jī)低溫冰水機(jī)Chiller ZL系列

        詳細(xì)摘要: 半導(dǎo)體冷水機(jī)低溫冰水機(jī)Chiller ZL系列,應(yīng)用與半導(dǎo)體生產(chǎn)過(guò)程中及測(cè)試環(huán)節(jié)的溫度控制,具有溫度穩(wěn)定性高、溫度范圍廣、故障診斷、外部通信等豐富功能的裝置。在...

        產(chǎn)品型號(hào):所在地:成都市更新時(shí)間:2025-03-05 在線留言

      • 半導(dǎo)體冷熱測(cè)試一體機(jī)Chiller循環(huán)制冷機(jī)

        詳細(xì)摘要: 半導(dǎo)體冷熱測(cè)試一體機(jī)Chiller循環(huán)制冷機(jī),本設(shè)備性能優(yōu)異,體積小、噪音低、耗電量低、熱效率高且可根據(jù)需求定制,控制精度可達(dá)±0.05℃,適用于溫濕...

        產(chǎn)品型號(hào):所在地:成都市更新時(shí)間:2025-03-05 在線留言

      • 半導(dǎo)體冷水機(jī)循環(huán)制冷機(jī)chiller

        詳細(xì)摘要: 半導(dǎo)體冷水機(jī)循環(huán)制冷機(jī)chiller,具有溫度穩(wěn)定性高、溫度范圍廣、故障診斷、外部通信等豐富功能的裝置。在半導(dǎo)體制作過(guò)程/激光加工機(jī)/分析裝置/FPD制造裝置等...

        產(chǎn)品型號(hào):所在地:成都市更新時(shí)間:2025-03-05 在線留言

      • PCB離子遷移測(cè)試HAST高加速老化試驗(yàn)箱

        詳細(xì)摘要: PCB離子遷移測(cè)試HAST高加速老化試驗(yàn)箱,PCB離子遷移,簡(jiǎn)稱CAF。離子遷移是指在印刷電路板等產(chǎn)品上,由于離子化金屬向相反電極移動(dòng),在相對(duì)電極還原成原來(lái)的金...

        產(chǎn)品型號(hào):所在地:成都市更新時(shí)間:2025-03-05 在線留言

      • 導(dǎo)通電阻評(píng)估系統(tǒng)搭配 HAST高加速老化

        詳細(xì)摘要: 導(dǎo)通電阻評(píng)估系統(tǒng)搭配 HAST高加速老化,導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)可與zonglen HAST非飽和高壓加速老化試驗(yàn)箱配合使用,主要用于產(chǎn)品導(dǎo)通電阻性能驗(yàn)證。更好的保證...

        產(chǎn)品型號(hào):所在地:成都市更新時(shí)間:2025-03-05 在線留言

      • 溫度強(qiáng)迫系統(tǒng)接觸式高低溫測(cè)試 ATC840

        詳細(xì)摘要: 溫度強(qiáng)迫系統(tǒng)接觸式高低溫測(cè)試 ATC840,用于需求高溫、低溫、高低溫進(jìn)行測(cè)試/溫度控制的工藝,如:材料特性分析、溫度循環(huán)測(cè)試、快速溫變測(cè)試、溫度沖擊測(cè)試、失效...

        產(chǎn)品型號(hào):所在地:成都市更新時(shí)間:2025-03-05 在線留言

      • 接觸式芯片高低溫沖擊測(cè)試設(shè)備ATC860

        詳細(xì)摘要: zonglen接觸式芯片高低溫沖擊測(cè)試設(shè)備ATC860,接觸式高低溫設(shè)備是成都中冷研發(fā)的針對(duì)芯片可靠性測(cè)試的專用設(shè)備,通過(guò)測(cè)試頭與待測(cè)器件直接貼合的方式實(shí)現(xiàn)能量...

        產(chǎn)品型號(hào):所在地:成都市更新時(shí)間:2025-03-05 在線留言

      • 接觸式芯片高低溫沖擊設(shè)備FlexTC維修服務(wù)

        詳細(xì)摘要: 接觸式芯片高低溫沖擊設(shè)備FlexTC維修服務(wù),接觸式高低溫設(shè)備是成都中冷研發(fā)的針對(duì)芯片可靠性測(cè)試的專用設(shè)備,通過(guò)測(cè)試頭與待測(cè)器件直接貼合的方式實(shí)現(xiàn)能量傳遞,與傳...

        產(chǎn)品型號(hào):所在地:成都市更新時(shí)間:2025-03-05 在線留言

      • 接觸式芯片高低溫沖擊設(shè)備 氣流儀MAX TC

        詳細(xì)摘要: 接觸式芯片高低溫沖擊設(shè)備 氣流儀MAX TC,接觸式高低溫設(shè)備是成都中冷研發(fā)的針對(duì)芯片可靠性測(cè)試的專用設(shè)備,通過(guò)測(cè)試頭與待測(cè)器件直接貼合的方式實(shí)現(xiàn)能量傳遞,與傳...

        產(chǎn)品型號(hào):所在地:成都市更新時(shí)間:2025-03-05 在線留言

      • 接觸式芯片高低溫測(cè)試設(shè)備zonglen

        詳細(xì)摘要: 接觸式芯片高低溫測(cè)試設(shè)備zonglen,接觸式高低溫設(shè)備是成都中冷研發(fā)的針對(duì)芯片可靠性測(cè)試的專用設(shè)備,通過(guò)測(cè)試頭與待測(cè)器件直接貼合的方式實(shí)現(xiàn)能量傳遞,與傳統(tǒng)氣流...

        產(chǎn)品型號(hào):所在地:成都市更新時(shí)間:2025-03-05 在線留言

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