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      行業(yè)產(chǎn)品

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      上海翔研精密儀器有限公司


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      德國菲希爾FISCHER XUV X 射線熒光鍍層測厚儀

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      產(chǎn)品型號

      品       牌

      廠商性質(zhì)其他

      所  在  地

      聯(lián)系方式:吳經(jīng)理查看聯(lián)系方式

      更新時間:2023-02-27 08:11:50瀏覽次數(shù):355次

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      聯(lián)系人:吳經(jīng)理

      產(chǎn)品簡介

      簡介:XUV 系列設(shè)備的真空測量室能夠通過 X 射線熒光分析 (RFA) 檢測原子序數(shù)從Na(11)開始的輕元素。由于空氣會吸收輕元素的熒光X射線,因此在大氣環(huán)境中通常無法使用該方法。

      詳細介紹

      詳細說明

      XUV® 系列設(shè)備的真空測量室能夠通過 X 射線熒光分析 (RFA) 檢測原子序數(shù)從Na(11)開始的輕元素。由于空氣會吸收輕元素的熒光X射線,因此在大氣環(huán)境中通常無法使用該方法。因此,該儀器非常適合對要求嚴苛的鍍層厚度進行測量和材料分析。
       
      特性:
      ● 檢出限低、重復(fù)精度高,以及測量適用性廣,因此特別適用于研究和開發(fā)使用
      ● 配備真空測量室和高性能硅漂移探測器,能夠?qū)崿F(xiàn)精確測量,尤其是對輕元素的測試
      ● 通過可編程 X、Y 和 Z 軸進行自動測試
      ● 準(zhǔn)直器和濾波器可切換,因此可適用于各種材料和測試條件
       
      應(yīng)用:
      涂層厚度測量
      ● 原子序數(shù)從Na(11)開始的輕元素鍍層,可測量厚度低至納米級
      ● 鋁鍍層和硅鍍層
       
      材料分析
      ● 測定寶石的真?zhèn)闻c原產(chǎn)地
      ● 常規(guī)材料分析和取證
      ● 高分辨率痕量分析


      關(guān)鍵詞:探測器 濾波器

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