無縫覆蓋極寬的的測定范圍，從0.05到3000µ (3mm)
采用統(tǒng)一測定原理和光學(xué)系統(tǒng)和單光源覆蓋從0.05到3000寬粒徑范圍。采用標(biāo)準(zhǔn)統(tǒng)一，無數(shù)據(jù)間斷的多樣光學(xué)系統(tǒng)組合，在整個量程內(nèi)總能獲得精確的粒度分布測量結(jié)果。
有效的粒子循環(huán)系統(tǒng)
進(jìn)樣器進(jìn)樣器包含一個流速5000cm3/min的強(qiáng)大垂直徑向液體泵以使粗粒子和致密粒子能有效循環(huán)。。有效的粒子循環(huán)流通是支持測量上限達(dá)到3000µ (3mm)的關(guān)鍵技術(shù)。
靈活應(yīng)對各種樣品和應(yīng)用
提供多種選件可靈活應(yīng)對各種樣品和應(yīng)用。
| 產(chǎn)品描述 | 型號 | 方法 |
標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)樣器進(jìn)樣器和流通池 | SALD-MS30 | 濕法測定濕法測定 |
非循環(huán)進(jìn)樣器進(jìn)樣器 | SALD-AC30 | 濕法測定濕法測定 |
噴射型干法測定干法測定組件 | SALD-DS21 | 干法測定干法測定 |
自由下落型干法測定組件 | SALD-DS3 | 干法測定干法測定 |
Specifications SALD-3101
測量方法 | 激光衍射法 |
測量范圍 | 0.05-3000μm |
測量組件:SALD-31 01 (P/N 347-60000-20) | 進(jìn)樣組件:SALD-MS30 (P/N 346-63701-20) |
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光源 | 半導(dǎo)體激光（波長690納米） | 分散池 | 由內(nèi)體積約為400cm3聚縮醛和SUS316組成 |
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光傳感器 | 81個單元（76個前向單元，1個側(cè)向單元，四個后向單元） | 攪拌器 | 可調(diào)節(jié)旋轉(zhuǎn)速度，刀片型 |
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電源要求 | AC 100 to 120V 1A/AC 200 to 240V 0.5A 50/60Hz | 超聲發(fā)生器 | 頻率42kHz，輸出功率40W |
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規(guī)格及重量 | 寬95cm，深32cm，高41cm，重58kg | 液體泵 | 輸送速度高達(dá)5000 cm3/min，可調(diào)節(jié)徑向泵 |
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批式池：SALD-BC30 (P/N 321-48338-02) | 濕部件材料 | 不銹鋼(SUS304, SUS316) |
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材料 | 由石英玻璃制成 | 電源要求 | AC 100 to 120V 1.5A/AC 200 to 240V G.8A 50/60Hz |
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內(nèi)體積 | 12cm3 | 規(guī)格及重量 | 43cm wide寬, 41cm deep厚, 40cm high高, and 29kg weight重 |
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攪拌器 | 垂直移動刀片型，速度可調(diào) | 流通池 | 由石英玻璃制成 |
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PC System Requirements
處理器 | 133MHz或更高的奔騰-兼容CPU | 可用磁盤空間 | 30megabytes(MB) |
內(nèi)存 | 內(nèi)存32MB | CD-ROM驅(qū)動器 | 是 |
操作系統(tǒng) | Microsoft Windows 95/98/NT4.0/2000/XP | 串口 | 1個端口 |
顯示器 | ＳＶＧ或更高分辨率顯示器 |
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選件
干法測定干法測定組件
干法測定組件用于測量散布在空氣中的樣品粉體粒度分布，適用于無法找到合適分散劑或者溶于液體介質(zhì)的粒子
根據(jù)樣品的類型可從兩種組件中進(jìn)行選擇。
噴射型干法測定噴射型干法測定組件 (measuring range測量范圍: approx. 大約0.8 to 1000um) (P/N 347-60100-20)
樣品粉體由噴嘴向空氣中噴射。
這種組件測量提供了三種樣品吸入機(jī)制和三種類型的噴嘴， 可通過不同的分散力和進(jìn)樣體積的組合來滿足不同狀態(tài)樣品的測定需求。
自由下落型干法測定干法測定組件
樣品在自由下降的時候進(jìn)行測量。
即便極易損壞的粒子也可以直接進(jìn)行測量
一個單獨(dú)干法測定檢測器(P/N 347-60010-20)壓縮機(jī)(僅SALD-DS21)和集塵器要求采用干法測定組件。
非周期性運(yùn)動進(jìn)樣器 (P/N 346-83746-02)
30秒完成一項(xiàng)測量，包括洗滌、自動檢測樣品注入，測量和數(shù)據(jù)儲存。迅速的測量，節(jié)省了時間，并使其可進(jìn)行粒度分布迅速變化的粒子的測定工作，比如如研磨過程中的粉體。
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