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      行業(yè)產(chǎn)品

      • 行業(yè)產(chǎn)品

      深圳市藍星宇電子科技有限公司


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      JSX-1000S型X射線熒光光譜儀

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      具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

      產(chǎn)品型號

      品       牌

      廠商性質(zhì)其他

      所  在  地

      聯(lián)系方式:廖總查看聯(lián)系方式

      更新時間:2022-12-30 10:13:11瀏覽次數(shù):366次

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      產(chǎn)品簡介

      日本JEOL JSX-1000S型X射線熒光光譜儀采用觸控屏操作、提供更加簡便迅速的元素分析。具備常規(guī)定性、定量分析(FP法?檢量線法)、RoHS元素篩選功能等。利用豐富的硬件/軟件選配件、還能進行更廣泛的分析。

      詳細(xì)介紹

      日本JEOL 能量色散型X射線熒光分析儀 JSX-1000S

      JSX-1000S型X射線熒光光譜儀采用觸控屏操作、提供更加簡便迅速的元素分析。具備常規(guī)定性、定量分析(FP法?檢量線法)、RoHS元素篩選功能等。  利用豐富的硬件/軟件選配件、還能進行更廣泛的分析。

      產(chǎn)品規(guī)格 。FIB

      。檢測元素范圍:Mg~U

      。X射線發(fā)生裝置:5~50 kV , 1mA

      。靶材:Rh

      。一次濾波器 最多9種 自動交換:標(biāo)準(zhǔn):OPEN, ND, Cr, Pb, Cd

      選配:Cl, Cu, Mo, Sb

      。準(zhǔn)直器3種 自動交換:0.9mm, 2mm, 9mm

      。檢測器:硅漂移檢測器(SDD)

      。樣品室尺寸:300mmφ×80mmH

      。樣品室氣氛:大氣 / 真空(選配)

      。樣品室觀察機構(gòu):彩色攝像機

      。操作用電腦:Windows ® 觸控屏 臺式電腦

      。分析軟件(標(biāo)準(zhǔn)):定性分析(自動定性、KLM標(biāo)記、和峰顯示、譜圖檢索)
      定量分析(塊狀FP法、檢量線法)
      RoHS分析解決方案(Cd, Pb,Cr, Br, Hg)
      簡易分析解決方案
      報告制作軟件

      。分析軟件(選配):薄膜FP法分析軟件
      關(guān)聯(lián)濾波器FP法分析軟件

      。日常檢查軟件(標(biāo)準(zhǔn)):管球升壓、能量校正、強度校正

      Windows ® 為美國微軟公司在美國或其它國家的注冊商標(biāo)或商標(biāo)。

      • 主要附件
      • 樣品室真空排氣單元
      • 多樣品自動交換單元
      • 濾波器組
      • 濾膜FP 法分析軟件
      • 薄膜FP 法分析軟件
      • 和峰消除軟件
      • 鎳鍍層篩選解決方案
      • 錫鍍層篩選解決方案
      • 氯元素篩選解決方案

      產(chǎn)品特點:

      · JIB-4000聚焦離子束加工觀察系統(tǒng)配置了高性能的離子鏡筒(單束FIB裝置)。被加速了的鎵離子束經(jīng)聚焦照射樣品后,就能對樣品表面進行SIM觀察 、研磨,沉積碳和鎢等材料。還可以為TEM成像制備薄膜樣品,為觀察樣品內(nèi)部制備截面樣品。通過與SEM像比較,SIM像能清楚地顯示出歸因于晶體取向不同的電子通道襯度差異,這些都非常適合于評估多層鍍膜的截面及金屬結(jié)構(gòu)。

      · 高性能FIB鏡筒

      · JIB-4000采用高性能的FIB鏡筒,離子束流高達 60 nA,能進行快速研磨。大電流下的快速加工尤其適合于大面積的研磨,制備100 μm以上用來觀察的截面非常輕松。

      · 用戶友好的FIB裝置

      · JIB-4000高性能的 FIB鏡筒具有出色的可操作性。用戶友好的外觀和GUI設(shè)計,建立了使用方便的FIB系統(tǒng)。即使不是FIB專家也能夠輕松操作,此外,該裝置小巧緊湊為業(yè)界最小體積,安裝地點的選擇范圍很大。

      · 雙樣品臺

      · JIB-4000標(biāo)配的塊狀樣品馬達驅(qū)動樣品臺可供塊狀樣品使用,此外還可以增配側(cè)插式測角臺(TEM用Tip-on 樣品架可以直接插入)。塊狀樣品馬達驅(qū)動樣品臺能觀察整個表面為20 mm x 20 mm的塊狀樣品,樣品交換可以通過氣鎖式系統(tǒng)快速進行。側(cè)插式測角臺與JEOL的TEM系統(tǒng)使用的相同,因此Tip-on (上可以安裝附件的)樣品架與JEOL的TEM系統(tǒng)可以通用,這樣,F(xiàn)IB加工和TEM觀察的反復(fù)交替就能很容易地進行。

      · 豐富的附件

      · 有各種附件可用來支持JIB-4000的操作。包括對電路修改應(yīng)用特別有效的CAD導(dǎo)航系統(tǒng),對特殊形狀加工有效的矢量掃描系統(tǒng)等。通過給JIB-4000安裝適當(dāng)?shù)母郊?,該系統(tǒng)可以支持樣品制備以外的應(yīng)用。

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