Sigma 500 場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡
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更新時(shí)間:2022-09-10 11:00:50瀏覽次數(shù):418次
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日本電子X(jué)射線(xiàn)能譜儀,具備大的可調(diào)分析范圍
日本電子X射線(xiàn)能譜儀,具備大的可調(diào)分析范圍。單色化X射線(xiàn)源可用于高空間分辨率的化學(xué)態(tài)分析。采用全新設(shè)計(jì)的用戶(hù)界面,進(jìn)一步提升了可操作性,外觀(guān)設(shè)計(jì)現(xiàn)代,時(shí)尚。采用了Ribbon圖形用戶(hù)界面,在用戶(hù)友好的環(huán)境中,所有的操作可以只用鼠標(biāo)就能完成。 新開(kāi)發(fā)的考夫曼型蝕刻離子源能提供的蝕刻速率為1 nm/分鐘至100 nm /分鐘(SiO2),并允許在寬范圍的設(shè)置。它能夠適用于任何應(yīng)用的剖面分析,不管是精度要求很高的測(cè)量還是需要速度的分析。將考夫曼離子源安裝在樣品交換室上可以防止污染測(cè)試室。氬氣團(tuán)簇離子束流適合于有機(jī)物樣品分析。紅外線(xiàn)加熱系統(tǒng)能加熱到800 °C 以上。轉(zhuǎn)移艙能保護(hù)樣品不暴露在空氣中。
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