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深圳華普通用科技有限公司
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日本理學連續(xù)波長色散X射線熒光光譜儀ZSX Primus 400-華普通用
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詳細摘要： 簡要描述： AGS-X系列電子試驗機采用主機與控制裝置一體化結構，占地面積小，是操作簡便的小型化電子試驗機。該系列機已經取得CE認證，是目業(yè)內性價比較高的電子試...
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詳細摘要： 簡要描述： Rigaku ZSX Primus IV是一種上照式的連續(xù)波長色散X射線熒光（WDXRF）光譜儀，可以快速定量測定鈹（Be）到鈾（U）中的主要和次要...
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詳細摘要： 簡要描述： 印制電路板、焊錫、焊劑、涂覆材料等，GBA、DSP等微間距圖形IC封裝，電容器、連接器及其它電子器件及材料絕緣材料吸濕特性測試評估
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詳細摘要： 簡要描述： 利用蔡司的工業(yè)計算機斷層掃描系統，僅需一次 X 射線掃描，即可順利完成工件的測量和檢驗。標準的驗收檢測、精密工程和完善的校準程序可確保系統的追蹤性。...
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詳細摘要： 簡要描述： 業(yè)測試SiC及Si基IGBT、MOSFET動態(tài)時間參數特性，測試范圍可達3500V 4000A
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詳細摘要： 簡要描述： TSI的一維、二維或三維（1D,2D或3D）激光多普勒測速（LDV）系統，包含 新型的PowerSight固態(tài)激光器，讓您耳目一新。該款全新增強型系...
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詳細摘要： 簡要描述： 使用 4200A-SCS參數分析儀（參數測試儀）加快各類材料、半導體器件和工藝的開發(fā)，完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是業(yè)內性...
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詳細摘要： 簡要描述： 適用于界面化學、無機物、半導體、高分子、生物、藥學、醫(yī)學域中，除了微粒子外，膜及平板狀樣品的表面科學的基礎研究、應用研究。
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詳細摘要： 簡要描述：可瞬間測量量子效率（量子收率） 可去除再激勵熒光發(fā)光 采用了積分半球unit，實現了明亮的光學系 采用了低迷光多通道分光檢出器，大大減少了紫外區(qū)域的迷...
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詳細摘要： 簡要描述： Signal臺式分析儀采用了XOS的MWD XRF技術平臺（該技術還應用于Sindie和Clora分析儀），是硅含量分析儀的理想解決方案，具有所未有...
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詳細摘要： 簡要描述： 高精度X射線熒光（HDXRF）技術特別適用于對電氣設備零部件和原材料中潛在有毒重金屬檢測，滿足嚴格的精度要求。高樣品產出和精細空間分辨率是電子行業(yè)的...
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詳細摘要： 簡要描述： 小巧和方便使用的SINDIE試驗室分析儀是被設計用于檢測汽油，柴油和重油等石油產品中中超低總硫含量。SINDE通過超于想象的準確性和精度為石化企業(yè)提...
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詳細摘要： 簡要描述： 小巧，結果緊湊，超快速和高精度全內置：內置冷浴，無需外接冷浴，僅需電源 無需連接電腦直接顯示分析數據結果和狀態(tài) 一款冰點、傾點、濁點和凝點四款功能于...
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詳細摘要： 簡要描述： SPECTROLAB S 擁有上第*一個基于CMOS的探測器的記錄系統，該系統非常適合于金屬分析。從微量元素到多基體應用，它提供了其快速、高度準確、...
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