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低溫塊體壓電分析儀/其他主要用于高低溫下的壓電塊體陶瓷樣品的電性能和機(jī)電性能的表征。壓電測試溫度可以達(dá)到-100℃到+600℃。
電卡效應(yīng)測試儀系統(tǒng)除了可以測試材料的鐵電、壓電、熱釋電性能外,還可以用于測試材料在寬溫度范圍內(nèi)的電卡性能。
熱激發(fā)極化電流測試儀/其他系統(tǒng)除了可以測試材料的鐵電、壓電、熱釋電性能外,還可以用于測試材料的熱激發(fā)極化電流TSDC (Thermally Stimulated...
陶瓷多層執(zhí)行器測試儀/其他本設(shè)備用于陶瓷多層執(zhí)行器在動態(tài)加載力和靜態(tài)加載力條件下的性能研究,并且可以從室溫到200℃的測試。
鐵電遲豫電流測試儀/其他主要用來研究電子陶瓷材料的遲豫性能,也就是介電體和鐵電材料的極化和去極化電流的,即施加電壓階躍后的電流響應(yīng)。
鐵電隨機(jī)存儲器測試儀/其他內(nèi)存窗口信息是基于對器件*集成后進(jìn)行模擬電滯回線測量后得出的。
熱釋電性能測試儀/其他,熱釋電性能測試儀系統(tǒng)主要用于薄膜及塊體材料變溫的熱釋電性能測試。測試結(jié)果可得到:熱釋電電流、熱釋電系數(shù)、剩余極化強(qiáng)度對溫度和時間的曲線。
熱電性能測試儀/其他,主要用于熱電性能測試。包括:熱導(dǎo)率thermal conductivity, 電導(dǎo)率electrical conductivity, 塞貝...
華測-鐵電材料綜合測試系統(tǒng)/分析儀可廣泛地應(yīng)用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、塊體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲器等領(lǐng)域的研究為一體的綜合測試系...
升溫迅速的高溫介電溫譜儀是為了滿足材料在高溫環(huán)境下的介電性能測量需求而設(shè)計的。它由硬件設(shè)備和測量軟件組成,包括高溫測試平臺、高溫測試夾具、阻抗分析儀和高溫介電測...
華測-低壓漏電起痕測試儀器適用于照明設(shè)備、低壓電器、家用電器、機(jī)床電器、電機(jī)、電動工具、電子儀器、電工儀表、信息技術(shù)設(shè)備的研究、生產(chǎn)和質(zhì)檢部門,也適用于絕緣材料...
電化學(xué)遷移評價系統(tǒng)主要應(yīng)用于PCB和絕緣材料的助焊劑、抗蝕劑、焊料和樹脂的材料評估。 半導(dǎo)體的導(dǎo)電粘合劑的材料評估。華測-電化學(xué)遷移評價系統(tǒng)/電路板測試
華測-電壓擊穿試驗儀主要適用于固體絕緣材料如:塑料、薄膜、樹脂、云母、陶瓷、玻璃、絕緣漆等介質(zhì)在工頻電壓或直流電壓下?lián)舸?qiáng)度和耐電壓時間的測試.采用雙系統(tǒng)互鎖技...
華測可測薄膜電弱點(diǎn)測試儀器外形為柜狀一體化設(shè)計,左側(cè)為走膜及加壓裝置,右側(cè)為控制系統(tǒng)及操作面板。走膜裝置、絕緣導(dǎo)向輥、速度檢測輥等構(gòu)成面積檢測系統(tǒng);加壓裝置、漏...
TF ANALYZER 3000E是一款擴(kuò)展型高速型模塊化鐵電壓電分析儀,具備鐵電、壓電、熱釋電材料基本特性測試功能,可與激光干涉儀和SPM掃描探針顯微鏡等微位...
半導(dǎo)體封裝材料高溫絕緣電阻測試系統(tǒng)運(yùn)用三電極法設(shè)計原理測量。利用新穎的電阻測試系統(tǒng),重復(fù)性與穩(wěn)定性更好,提升了夾具的抗干擾能力,同時大大提高精確度,可應(yīng)用于產(chǎn)品...
高頻高壓絕緣電阻、介電測試系統(tǒng)通過測量被測物絕緣各個頻率下的泄漏電流,利用數(shù)據(jù)模型對測量結(jié)果進(jìn)行分析從而得到固體絕緣材料的電導(dǎo)率、絕緣油的電導(dǎo)率/介損以及參考溫...
定制半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺,是一種能夠在高真空環(huán)境下進(jìn)行精確測量和實(shí)驗的設(shè)備。其基本原理是利用真空環(huán)境下的物理現(xiàn)象和特性,對樣品進(jìn)行各種實(shí)驗和測量。在高真空環(huán)...
多通道介電測試系統(tǒng)/測試儀器-2024新產(chǎn)品主要用于:多通道電阻、介電測試等可搭載阻抗分析儀、高阻計使用。
高低溫冷熱臺/配合阻抗分析儀電化學(xué)工作站,可配合阻抗分析儀、高阻計、電化學(xué)工作站、數(shù)字原表設(shè)備進(jìn)行功能材料電學(xué)的相關(guān)測試,采用直接聯(lián)接測試儀表以減少測試導(dǎo)線的影...
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