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電卡效應(yīng)測(cè)試儀
電卡效應(yīng)測(cè)試儀系統(tǒng)除了可以測(cè)試材料的鐵電、壓電、熱釋電性能外,還可以用于測(cè)試材料在寬溫度范圍內(nèi)的電卡性能。
型號(hào):
所在地:北京市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2024/10/25 18:16:20
對(duì)比
電卡效應(yīng)測(cè)試儀熱釋電性能
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熱激發(fā)極化電流測(cè)試儀/其他
熱激發(fā)極化電流測(cè)試儀/其他系統(tǒng)除了可以測(cè)試材料的鐵電、壓電、熱釋電性能外,還可以用于測(cè)試材料的熱激發(fā)極化電流TSDC (Thermally Stimulated...
型號(hào):
所在地:北京市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2024/10/25 18:16:20
對(duì)比
熱激發(fā)極化電流熱激發(fā)極化電流測(cè)試儀漏電流測(cè)試
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陶瓷多層執(zhí)行器測(cè)試儀/其他
陶瓷多層執(zhí)行器測(cè)試儀/其他本設(shè)備用于陶瓷多層執(zhí)行器在動(dòng)態(tài)加載力和靜態(tài)加載力條件下的性能研究,并且可以從室溫到200℃的測(cè)試。
型號(hào): huaceCMA
所在地:北京市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2024/10/25 18:16:20
對(duì)比
陶瓷多層執(zhí)行器測(cè)試儀阻抗諧振測(cè)試
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鐵電遲豫電流測(cè)試儀/其他
鐵電遲豫電流測(cè)試儀/其他主要用來(lái)研究電子陶瓷材料的遲豫性能,也就是介電體和鐵電材料的極化和去極化電流的,即施加電壓階躍后的電流響應(yīng)。
型號(hào):
所在地:北京市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2024/10/25 18:16:20
對(duì)比
鐵電遲豫電流測(cè)試儀鐵電遲豫電流測(cè)試儀
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鐵電隨機(jī)存儲(chǔ)器測(cè)試儀/其他
鐵電隨機(jī)存儲(chǔ)器測(cè)試儀/其他內(nèi)存窗口信息是基于對(duì)器件*集成后進(jìn)行模擬電滯回線(xiàn)測(cè)量后得出的。
型號(hào):
所在地:北京市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2024/10/25 18:16:20
對(duì)比
鐵電隨機(jī)存儲(chǔ)器測(cè)試儀鐵電隨機(jī)存儲(chǔ)器鐵電存儲(chǔ)器的生產(chǎn)
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熱釋電性能測(cè)試儀/其他
熱釋電性能測(cè)試儀/其他,熱釋電性能測(cè)試儀系統(tǒng)主要用于薄膜及塊體材料變溫的熱釋電性能測(cè)試。測(cè)試結(jié)果可得到:熱釋電電流、熱釋電系數(shù)、剩余極化強(qiáng)度對(duì)溫度和時(shí)間的曲線(xiàn)。
型號(hào):
所在地:北京市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2024/10/25 18:16:20
對(duì)比
熱釋電性能試驗(yàn)儀熱釋電系數(shù)剩余極化強(qiáng)度
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熱電性能測(cè)試儀/其他
熱電性能測(cè)試儀/其他,主要用于熱電性能測(cè)試。包括:熱導(dǎo)率thermal conductivity, 電導(dǎo)率electrical conductivity, 塞貝...
型號(hào):
所在地:北京市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2024/10/25 18:16:12
對(duì)比
熱電性能測(cè)試儀熱電性能測(cè)試
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華測(cè)-鐵電材料綜合測(cè)試系統(tǒng)/分析儀
華測(cè)-鐵電材料綜合測(cè)試系統(tǒng)/分析儀可廣泛地應(yīng)用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、塊體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲(chǔ)器等領(lǐng)域的研究為一體的綜合測(cè)試系...
型號(hào):
所在地:北京市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2024/10/25 18:16:12
對(duì)比
鐵電材料綜合測(cè)試儀鐵電材料
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升溫迅速的高溫介電溫譜儀
升溫迅速的高溫介電溫譜儀是為了滿(mǎn)足材料在高溫環(huán)境下的介電性能測(cè)量需求而設(shè)計(jì)的。它由硬件設(shè)備和測(cè)量軟件組成,包括高溫測(cè)試平臺(tái)、高溫測(cè)試夾具、阻抗分析儀和高溫介電測(cè)...
型號(hào):
所在地:北京市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2024/10/25 18:16:12
對(duì)比
高溫介電溫譜試驗(yàn)儀高溫介電性能
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華測(cè)-低壓漏電起痕測(cè)試儀器
華測(cè)-低壓漏電起痕測(cè)試儀器適用于照明設(shè)備、低壓電器、家用電器、機(jī)床電器、電機(jī)、電動(dòng)工具、電子儀器、電工儀表、信息技術(shù)設(shè)備的研究、生產(chǎn)和質(zhì)檢部門(mén),也適用于絕緣材料...
型號(hào):
所在地:北京市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2024/10/25 18:16:12
對(duì)比
低壓漏電起痕測(cè)試儀耐電痕化指數(shù)
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華測(cè)-電化學(xué)遷移評(píng)價(jià)系統(tǒng)/電路板測(cè)試
電化學(xué)遷移評(píng)價(jià)系統(tǒng)主要應(yīng)用于PCB和絕緣材料的助焊劑、抗蝕劑、焊料和樹(shù)脂的材料評(píng)估。 半導(dǎo)體的導(dǎo)電粘合劑的材料評(píng)估。華測(cè)-電化學(xué)遷移評(píng)價(jià)系統(tǒng)/電路板測(cè)試
型號(hào):
所在地:北京市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2024/10/25 18:16:12
對(duì)比
電化學(xué)遷移評(píng)價(jià)測(cè)試儀電化學(xué)遷移評(píng)價(jià)
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華測(cè)-電壓擊穿試驗(yàn)儀
華測(cè)-電壓擊穿試驗(yàn)儀主要適用于固體絕緣材料如:塑料、薄膜、樹(shù)脂、云母、陶瓷、玻璃、絕緣漆等介質(zhì)在工頻電壓或直流電壓下?lián)舸?qiáng)度和耐電壓時(shí)間的測(cè)試.采用雙系統(tǒng)互鎖技...
型號(hào): HCDJC—50K...
所在地:北京市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2024/10/25 18:16:12
對(duì)比
電壓擊穿試驗(yàn)儀/機(jī)電壓擊穿試驗(yàn)儀100KV電擊穿試驗(yàn)儀
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華測(cè)可測(cè)薄膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀器
華測(cè)可測(cè)薄膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀器外形為柜狀一體化設(shè)計(jì),左側(cè)為走膜及加壓裝置,右側(cè)為控制系統(tǒng)及操作面板。走膜裝置、絕緣導(dǎo)向輥、速度檢測(cè)輥等構(gòu)成面積檢測(cè)系統(tǒng);加壓裝置、漏...
型號(hào):
所在地:北京市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2024/10/25 18:16:12
對(duì)比
電弱點(diǎn)測(cè)試儀可測(cè)薄膜導(dǎo)電橡膠薄膜電弱點(diǎn)
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鐵電材料參數(shù)分析儀綜合測(cè)試系統(tǒng)
TF ANALYZER 3000E是一款擴(kuò)展型高速型模塊化鐵電壓電分析儀,具備鐵電、壓電、熱釋電材料基本特性測(cè)試功能,可與激光干涉儀和SPM掃描探針顯微鏡等微位...
型號(hào): TF Analyz...
所在地:北京市
參考價(jià):
面議更新時(shí)間:2024/10/25 18:16:12
對(duì)比
鐵電壓電分析儀熱釋電薄膜鐵電傳感器材料綜合測(cè)試系統(tǒng)
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半導(dǎo)體封裝材料高溫絕緣電阻測(cè)試系統(tǒng)
半導(dǎo)體封裝材料高溫絕緣電阻測(cè)試系統(tǒng)運(yùn)用三電極法設(shè)計(jì)原理測(cè)量。利用新穎的電阻測(cè)試系統(tǒng),重復(fù)性與穩(wěn)定性更好,提升了夾具的抗干擾能力,同時(shí)大大提高精確度,可應(yīng)用于產(chǎn)品...
型號(hào):
所在地:北京市
參考價(jià):
¥130000更新時(shí)間:2024/10/23 9:46:01
對(duì)比
半導(dǎo)體封裝材料高溫絕緣電阻測(cè)試系統(tǒng)產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)性能研究抗干擾能力絕緣材料一機(jī)多用半導(dǎo)體封裝材料
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高頻高壓絕緣電阻、介電測(cè)試系統(tǒng)
高頻高壓絕緣電阻、介電測(cè)試系統(tǒng)通過(guò)測(cè)量被測(cè)物絕緣各個(gè)頻率下的泄漏電流,利用數(shù)據(jù)模型對(duì)測(cè)量結(jié)果進(jìn)行分析從而得到固體絕緣材料的電導(dǎo)率、絕緣油的電導(dǎo)率/介損以及參考溫...
型號(hào): Huace
所在地:北京市
參考價(jià):
¥260000更新時(shí)間:2024/10/23 9:45:45
對(duì)比
高頻高壓絕緣材料高頻高壓絕緣電阻介電測(cè)試系統(tǒng)高頻絕緣材料高頻絕緣電阻
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定制半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺(tái)
定制半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺(tái),是一種能夠在高真空環(huán)境下進(jìn)行精確測(cè)量和實(shí)驗(yàn)的設(shè)備。其基本原理是利用真空環(huán)境下的物理現(xiàn)象和特性,對(duì)樣品進(jìn)行各種實(shí)驗(yàn)和測(cè)量。在高真空環(huán)...
型號(hào):
所在地:北京市
參考價(jià):
¥53000更新時(shí)間:2024/10/15 15:27:09
對(duì)比
真空探針臺(tái)高真空環(huán)境進(jìn)行測(cè)量顯微鏡冷熱臺(tái)高真空探針臺(tái)
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半導(dǎo)體材料多通道介電測(cè)試系統(tǒng)/測(cè)試儀器
多通道介電測(cè)試系統(tǒng)/測(cè)試儀器-2024新產(chǎn)品主要用于:多通道電阻、介電測(cè)試等可搭載阻抗分析儀、高阻計(jì)使用。
型號(hào): HTDM-10
所在地:北京市
參考價(jià):
¥50000更新時(shí)間:2024/10/10 15:44:49
對(duì)比
多通道介電電阻測(cè)試模塊電阻測(cè)量可搭載阻抗分析儀、高阻計(jì)使用半導(dǎo)體材料
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高低溫冷熱臺(tái)/配合阻抗分析儀電化學(xué)工作站
高低溫冷熱臺(tái)/配合阻抗分析儀電化學(xué)工作站,可配合阻抗分析儀、高阻計(jì)、電化學(xué)工作站、數(shù)字原表設(shè)備進(jìn)行功能材料電學(xué)的相關(guān)測(cè)試,采用直接聯(lián)接測(cè)試儀表以減少測(cè)試導(dǎo)線(xiàn)的影...
型號(hào): Huace650T...
所在地:北京市
參考價(jià):
¥150000更新時(shí)間:2024/10/10 15:43:11
對(duì)比
溫控探針臺(tái)高低溫冷熱臺(tái)
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華測(cè)半導(dǎo)體封裝材料I-V小型測(cè)試平臺(tái)
華測(cè)半導(dǎo)體封裝材料I-V小型測(cè)試平臺(tái),測(cè)試人員把需要量測(cè)的器件放到探針臺(tái)載物臺(tái)(chuck)上,在顯微鏡配合下,X-Y移動(dòng)器件,找到需要探測(cè)的位置。
型號(hào): Huace-4
所在地:北京市
參考價(jià):
¥30000更新時(shí)間:2024/10/10 15:25:59
對(duì)比
電測(cè)探針臺(tái)半導(dǎo)體探針臺(tái)I-VR-T探針臺(tái)系統(tǒng)