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      北京華測(cè)試驗(yàn)儀器有限公司
      中級(jí)會(huì)員 | 第8年

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      華測(cè)儀器塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀新產(chǎn)品上市

      時(shí)間:2025-3-21閱讀:292
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      華測(cè)儀器塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀新產(chǎn)品上市


      華測(cè)儀器塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀新產(chǎn)品上市


      產(chǎn)品介紹

      熱電效應(yīng)描述了材料中溫度和電的相互影響,它基于三個(gè)基本效應(yīng):貝克效應(yīng)、珀?duì)柼?yīng)和湯姆森效應(yīng)。貝克效應(yīng)是1821年由德國(guó)物理學(xué)家J. T. Seebeck發(fā)現(xiàn)的,描述了在電絕緣導(dǎo)體中施加溫度梯度時(shí)電場(chǎng)的形成。與之相反,熱電冷卻效應(yīng)描述通過(guò)施加電流獲得溫度差的現(xiàn)象。電能和熱能的轉(zhuǎn)換效率是材料物理特性,用塞貝克系數(shù)S表征,其與溫度相關(guān)。

      目前,使用化石燃料生成的二氧化碳導(dǎo)致全球變暖加劇,而人們也面臨能源枯竭的問(wèn)題,利用熱電轉(zhuǎn)換元件收集余熱并有效利用引起人們的廣泛注意。另外,利用熱電冷卻效應(yīng)進(jìn)行制冷是熱電特性的重要應(yīng)用。

      隨著化石燃料越來(lái)越少,二氧化碳排放量不斷增加,全球變暖也在加劇,因此有效的熱電轉(zhuǎn)換越來(lái)越受關(guān)注。利用熱電發(fā)電機(jī)(TEG)收集熱機(jī)余熱(如汽車或傳統(tǒng)發(fā)電廠),并將其轉(zhuǎn)換成電能,以提高其轉(zhuǎn)換效率。同時(shí),通過(guò)帕爾貼進(jìn)行冷卻的應(yīng)用也越來(lái)越受關(guān)注,例如激光器中的恒溫溫度臨界元件、優(yōu)異熱電材料。通常根據(jù)無(wú)量綱優(yōu)值ZT來(lái)衡量材料的熱電轉(zhuǎn)換效率,由熱導(dǎo)率、塞貝克系數(shù)和導(dǎo)電率計(jì)算得出。

      由此,華測(cè)儀器研發(fā)了一系列簡(jiǎn)單易用和優(yōu)異的材料表征儀器。華測(cè)儀器的HC-RD-1100可以同時(shí)測(cè)定樣品在RT至1500溫度范圍內(nèi)的塞貝克系數(shù)和電阻率。

      熱功率、熱電勢(shì)、或塞貝克系數(shù)描述的都是材料在一定溫差條件下產(chǎn)生感應(yīng)熱電電壓的大小,單位是V/K。

      近年來(lái)直接將熱能轉(zhuǎn)化成電能的方法引起人們的廣泛興趣。通過(guò)熱電裝置收集熱發(fā)動(dòng)機(jī)和燃燒系統(tǒng)余熱并轉(zhuǎn)換成電能可以節(jié)省數(shù)十億美元。

      為了應(yīng)對(duì)一系列挑戰(zhàn)性的應(yīng)用,華測(cè)儀器已經(jīng)開發(fā)出HC-RD-1100 塞貝克系數(shù)/電阻率測(cè)試系統(tǒng)用于分析材料和器件的特性。


      特點(diǎn)

      • 文本編輯

      • 重復(fù)測(cè)量可少的輸入?yún)?shù)

      • 實(shí)時(shí)測(cè)量分析

      • 測(cè)量曲線比較:多達(dá)32條曲線

      • 曲線扣除

      • 曲線放大縮小

      • 一階/二階求導(dǎo)

      • 多重峰分析

      • 樣品溫度多點(diǎn)校正

      • 多種方法分析(DSC TG 、TMA、DIL等)

      • 焓變多點(diǎn)校正

      • 熱流Cp測(cè)量

      • 評(píng)估結(jié)果保存及導(dǎo)出

      • ASCII數(shù)據(jù)導(dǎo)入與導(dǎo)出

      • 數(shù)據(jù)生成到MS Excel

      • 信號(hào)控制測(cè)量測(cè)序

      產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

      寬溫區(qū)覆蓋與高適應(yīng)性

      l 支持 RT 至 1500℃ 超寬溫度范圍,兼容低溫至超高溫測(cè)試,滿足熱電材料、高溫合金等多種材料研究需求;

      l 提供惰性、氧化、還原、真空多氣氛環(huán)境,適配材料在不同反應(yīng)條件下的性能評(píng)估。

      高精度與多功能集成

      l 貝克系數(shù)測(cè)量范圍 1~2500μV/K ,準(zhǔn)確度達(dá) ±7% ,重復(fù)性 ±3% ,精準(zhǔn)捕捉微弱熱電效應(yīng);

      l 電導(dǎo)率測(cè)量范圍覆蓋 0.01~2×105 S/cm ,準(zhǔn)確度 ±5~8% ,支持從絕緣體到導(dǎo)體的全品類材料電阻率分析;

      l 采用靜態(tài)直流法(貝克系數(shù))與四端法(電阻率),確保測(cè)量結(jié)果穩(wěn)定可靠。

      靈活兼容性與操作便捷性

      l 支持圓柱形(φ6mm)、棱柱形(2~5mm面寬)及圓盤狀(10~25.4mm)多種樣品尺寸,適配復(fù)雜形狀試樣;

      l 可調(diào)探頭距離(4/6/8mm)與三明治夾持結(jié)構(gòu),保障樣品接觸穩(wěn)定性,減少測(cè)量誤差;

      l 電極材料可選鎳(-100~500℃)或鉑(-100~1500℃),靈活應(yīng)對(duì)不同溫區(qū)與材料特性。

      高穩(wěn)定性與長(zhǎng)周期測(cè)試能力

      l 電源輸出 0~1A ,具備長(zhǎng)期穩(wěn)定性,支持連續(xù)高溫實(shí)驗(yàn)與長(zhǎng)時(shí)間數(shù)據(jù)采集;

      l 配備K/S/C型熱電偶,實(shí)現(xiàn)精準(zhǔn)溫度監(jiān)控與閉環(huán)控制。






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