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華測(cè)儀器-壓電材料靜態(tài)壓電常數(shù)測(cè)試儀可測(cè)量壓電材料的介電常數(shù)、居里溫度、熱釋電系數(shù)、縱向壓電應(yīng)變常數(shù)d33、機(jī)電耦合系數(shù)等參數(shù)。華測(cè)儀器-壓電材料靜態(tài)壓電系數(shù)測(cè)...

華測(cè)-壓電陶瓷壓電系數(shù)測(cè)試儀，采用利用數(shù)字合成DDS芯片的函數(shù)發(fā)生器，為激振器提供穩(wěn)定頻率。 采用激振器，以實(shí)現(xiàn)精準(zhǔn)的振動(dòng)頻率。電荷采用采用高阻放電荷放大器。以...

北京華測(cè)-高溫介電溫譜儀，主要用于絕緣材料在不同溫 度不同頻率下的電學(xué)性能測(cè)試，系統(tǒng)包含高溫爐膛， 阻抗分析儀，微電流表，夾具，測(cè)試軟件于一體，可 測(cè)試材料的介...

高溫絕緣電阻測(cè)試儀系統(tǒng)采用由固體三電極測(cè)量方法，測(cè)試電阻率系統(tǒng)與高溫試驗(yàn)箱為一體的的高溫測(cè)試系統(tǒng)，滿足固體絕緣材料因溫度變化對(duì)電阻值變 化的測(cè)量要求，可以在高溫...

電子式剩余電流斷路器試驗(yàn)機(jī)HC200—B/其他的功能操作采用觸摸屏，斷路器動(dòng)作后，脫扣電流和分?jǐn)鄷r(shí)間均能保持，便于讀數(shù)和記錄。

HCTZ-2S四探針測(cè)試儀器是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的，于測(cè)試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻（薄層電阻）的儀...

HC200—A剩余電流斷路器測(cè)試儀/其他，是剩余電流斷路器的性能測(cè)試而研制，它是檢測(cè) B 型剩余電流斷路器脫扣電流和分?jǐn)鄷r(shí)間的關(guān)鍵儀器。

工業(yè)觸摸屏剩余電流斷路器測(cè)試儀/其他的功能操作采用觸摸屏，斷路器動(dòng)作后，脫扣電流和分?jǐn)鄷r(shí)間均能保持，便于讀數(shù)和記錄。

高溫絕緣電阻測(cè)試儀采用電子保護(hù)系統(tǒng)，提高了設(shè)備的安全性；選用熱電偶保定溫度的采集有效值、采用SPWM電子升壓技術(shù)，電壓輸出穩(wěn)定性好。配備高的精度電壓、電流傳感器...

高溫四探針測(cè)試儀器采用四探針雙電測(cè)量方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料在高溫、真空及氣氛條件下測(cè)量的一種重要的工具。本儀...

華測(cè)高溫四探針測(cè)試儀器Huace-800華測(cè)高溫四探針測(cè)試儀本儀器本儀器采用四探針雙電測(cè)量方法。本儀器配置各類測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料。

高真空退火爐/高溫介電溫譜儀可實(shí)現(xiàn)寬域均熱區(qū)，高速加熱、高速冷卻，用石英管保護(hù)加熱式樣，無氣氛污染?？稍诟哒婵?， 高出純度氣體中加熱。設(shè)備可組成均熱高速加熱爐，...

高真空退火爐/高溫介電是通過多年研究開發(fā)了一種可實(shí)現(xiàn)精度高，高反射率的拋物面與高質(zhì)量的加熱源相配置儀器。它能在高速加熱高速冷卻時(shí)，具有良好的溫度分布。設(shè)備可組成...

高真空退火爐/高溫介電溫譜儀可實(shí)現(xiàn)寬域均熱區(qū)，高速加熱、高速冷卻，用石英管保護(hù)加熱式樣，無氣氛污染。可在高真空， 高出純度氣體中加熱。設(shè)備可組成均熱高速加熱爐，...

華測(cè)熱重分析儀（Thermal Gravimetric Analyzer）是一種利用熱重法檢測(cè)物質(zhì)溫度-質(zhì)量變化關(guān)系的儀器。熱重法是在程序控溫下，測(cè)量物質(zhì)的質(zhì)量...

華測(cè)-陶瓷材料閃燒試驗(yàn)裝置具有耐高溫、耐酸耐堿、強(qiáng)度高等優(yōu)點(diǎn)，被廣泛應(yīng)用。然而，陶瓷材料的制備通常需要很高的燒結(jié)溫度，消耗大量能源，生產(chǎn)成本較高，是限制其廣泛應(yīng)...

華測(cè)-高溫管式爐測(cè)試儀器大都為管式爐或馬弗爐，原理為加熱絲或硅碳棒對(duì)爐體加熱，加熱與降溫速度慢，效率低下，也無法實(shí)現(xiàn)溫度的高的精度測(cè)量，加熱區(qū)域也存在不均勻的現(xiàn)...

高溫四探針測(cè)試儀，可評(píng)估薄膜導(dǎo)電性能的高溫四探針測(cè)試儀采用直排四探針法設(shè)計(jì)原理測(cè)量。主要用于評(píng)估半導(dǎo)體薄膜和薄片的導(dǎo)電性能。重復(fù)性與穩(wěn)定性好，采用雙屏蔽高頻測(cè)試...

華測(cè)-居里溫度測(cè)試儀器運(yùn)用三電極法設(shè)計(jì)原理測(cè)量。重復(fù)性與穩(wěn)定性更好，采用雙屏蔽高頻測(cè)試線纜，提高測(cè)試參數(shù)的精確度，本設(shè)備也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)性能研究...

多通道電流測(cè)試儀器本多通道弱信號(hào)采集系統(tǒng)由1KV直流高壓模塊、fA電流采集卡、控制主板及PC上位機(jī)夠成的測(cè)試系統(tǒng)。