一、可編程高低溫溫度循環(huán)試驗箱技術(shù)參數(shù)

容量/內(nèi)部尺寸（HxDmm）/外部尺寸（HxDmm）

80L/400X500X400/970X1360X9700

150L/500X600X500/1070X1450X1070

225L/500X750X600/1070X1610X1180

408L/600X850X800/1170X1710X1280

800L/1000X1000X800/1650X1950X1280

1000L/1000X1000X1000/1650X1950X1700

溫度范圍：-75℃，-60℃,-40℃，-20℃，0℃，+150℃

降溫速率：RT～-20℃/45min(空載下)

升溫速率：RT～+150℃/40min(空載下)

溫度波動度：±0.5℃

溫度偏差：±2.0℃

內(nèi)箱材質(zhì)：測試區(qū)內(nèi)箱選擇優(yōu)質(zhì)不銹鋼板 ( SUS # 304 )。

外箱材質(zhì)：烤漆或者不銹鋼板可選。

二、可編程高低溫溫度循環(huán)試驗箱執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)

GB10592-89高低溫試驗箱技術(shù)條件；

GB2423.1、GB2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗A：低溫試驗方法，試驗B：高溫試驗方法》對產(chǎn)品進行低溫、高溫試驗及恒定溫?zé)嵩囼灒?/span>

GB2423.1、GB2423.2、GJB150.3、GJB150.4、IEC、MIL標(biāo)準(zhǔn)。

GB11158-2008 高溫試驗箱技術(shù)條件
GB10589-2008低溫試驗箱技術(shù)條件
GB10592-2008高低溫試驗箱技術(shù)條件（溫度交變）
GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分;試驗方法 試驗A;低溫(IEC60068-2-1;2007)
GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分;試驗方法 試驗B;高溫(IEC60068-2-1;2007)
GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分;試驗方法 試驗N;溫度變化(IEC60068-2-14)
GJB150.3A-2009設(shè)備實驗室環(huán)境試驗方法第3部：高溫試驗
GJB150.4A-2009設(shè)備實驗室環(huán)境試驗方法第3部：低溫試驗

三、安裝場地：

設(shè)備周圍無強烈振動；地面平整，通風(fēng)良好。

設(shè)備周圍無強電磁場影響；無易燃、易爆、腐蝕性物質(zhì)和粉塵。

設(shè)備周圍留有適當(dāng)?shù)氖褂眉熬S護空間，

供電條件：要求用戶在安裝現(xiàn)場配置相應(yīng)容量的空氣或動力開關(guān)，并且此開關(guān)必須是獨立供本設(shè)備使用220V電源單相兩線+保護地線

zui大電流功耗：電流（25）A  功率：5.5KW       

其他：試驗過程中打開試驗箱的門，會造成箱內(nèi)的溫、濕度波動；在試驗過程中如果多次打開門或長時間敞開門或試驗樣品散發(fā)濕氣，可能會造成制冷系統(tǒng)換熱器結(jié)冰而無法正常工作。

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