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      NanoCalc薄膜反射測量系統(tǒng)

      參考價面議
      具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
      • 公司名稱廣州標(biāo)旗電子科技有限公司
      • 品       牌
      • 型       號
      • 所  在  地廣州市
      • 廠商性質(zhì)代理商
      • 更新時間2025/5/22 8:48:32
      • 訪問次數(shù)14
      產(chǎn)品標(biāo)簽:

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      廣州標(biāo)旗電子科技有限公司成立于2005年,是一家科研基礎(chǔ)平臺和實(shí)驗(yàn)室建設(shè)、科技服務(wù)咨詢、科學(xué)儀器和實(shí)驗(yàn)設(shè)備營銷的科技服務(wù)和綜合商貿(mào)企業(yè),公司坐落于國家軟件產(chǎn)業(yè)基地廣州金穎園區(qū),毗鄰華南理工大學(xué)、華南農(nóng)業(yè)大學(xué)、華南師范大學(xué)及暨南大學(xué)等高校區(qū)。公司以提高華南地區(qū)的科研基礎(chǔ)裝備建設(shè)水平為目標(biāo),從服務(wù)咨詢、新產(chǎn)品推介、新技術(shù)研發(fā)和引進(jìn)等多個方面開展公司業(yè)務(wù),為廣大客戶在大型科研設(shè)備的調(diào)研和購置、新型儀器和新技術(shù)的資料信息采集、特異設(shè)備的定制和采購等提供優(yōu)質(zhì)服務(wù),公司具備一般納稅人資格和進(jìn)出口代理權(quán)。
        公司定位為高技術(shù)科技服務(wù)與成果轉(zhuǎn)化企業(yè),依托科技園區(qū)的人才優(yōu)勢,公司由華南理工、華南農(nóng)大等院校畢業(yè)的博士、碩士為技術(shù)骨干,國內(nèi)多家高校的教授和專業(yè)研究人員為我們提供簽約技術(shù)支持,以扎實(shí)的業(yè)務(wù)功底和孜孜以求的創(chuàng)業(yè)熱情為客戶提供專業(yè)服務(wù)。公司經(jīng)過快速的發(fā)展,與國內(nèi)外數(shù)百家實(shí)驗(yàn)儀器生產(chǎn)廠家有著良好的業(yè)務(wù)聯(lián)系和協(xié)作關(guān)系,客戶涉及高校、科研院所、醫(yī)院、企業(yè)、政府部門等多個領(lǐng)域,是多家科技裝備企業(yè)在中國和華南地區(qū)的*代理和經(jīng)銷商,包括:OceanOptics 光纖光譜儀(全國代理商),PerkinElmer分析儀器、羅德與施瓦茨監(jiān)測系統(tǒng)、美國Spectrecology微型光纖光譜儀,韓國K-MAC 科美儀器,e-box電子防潮柜、“帕恩特”純水/超純水系統(tǒng)、TOMTAC液體處理工作站、以及ABEL色譜儀等實(shí)驗(yàn)分析儀器、生化儀器、檢測儀器、環(huán)保儀器、化學(xué)試劑、實(shí)驗(yàn)室耗材等。
        公司還在自主創(chuàng)新的道路上快速前行,從去年以來累計(jì)自主研發(fā)了微量紫外分光光度計(jì)、薄層層析檢測儀、便攜式珠寶檢測儀、平面光學(xué)元件檢測儀及球面光學(xué)元件檢測等儀器。
        “專業(yè)精神、真誠服務(wù)”是標(biāo)旗的服務(wù)宗旨。我們不懈地追求*的售前、售后服務(wù)以提高客戶滿意度。為了全面提升標(biāo)旗公司的服務(wù)質(zhì)量,除了不斷引進(jìn)新的產(chǎn)品,近年來我們更著重于從優(yōu)化組織構(gòu)架、培訓(xùn)提升員工服務(wù)意識等。面對新的挑戰(zhàn),我們深沉思索、感悟良多,“學(xué)習(xí)成就未來”將指導(dǎo)我們明確方向、激勵我們追求*!
       

      光纖光譜儀,光纖,防潮柜
      NanoCalc薄膜反射測量系統(tǒng)
      NanoCalc薄膜反射測量系統(tǒng) 產(chǎn)品信息

      NanoCalc 薄膜反射測量系統(tǒng)

      薄膜的光學(xué)特性主要有反射和干涉.NanoCalc薄膜反射測量系統(tǒng)可以用來進(jìn)行10nm~250µm的膜厚分析測量,對單層膜的分辨率為0.1nm。根據(jù)測量軟件的不同,可以分析單層或多層膜厚。

      特點(diǎn)

      • 可分析單層或多層薄膜

      • 分辨率達(dá)0.1nm

      • 適合于在線監(jiān)測

      操作理論

      的兩種測量薄膜的特性的方法為光學(xué)反射和投射測量、橢圓光度法測量。NanoCalc利用反射原理進(jìn)行膜厚測量。

      查找n和k值

      可以進(jìn)行多達(dá)三層的薄膜測量,薄膜和基體測量可以是金屬、電介質(zhì)、無定形材料或硅晶等。NanoCalc軟件包含了大多數(shù)材料的n和k值數(shù)據(jù)庫,用戶也可以自己添加和編輯。

      應(yīng)用

      NanoCalc薄膜反射材料系統(tǒng)適合于在線膜厚和去除率測量,包括氧化層、中氮化硅薄膜、感光膠片及其它類型的薄膜。NanoCalc也可測量在鋼、鋁、銅、陶瓷、塑料等物質(zhì)上的抗反射涂層、抗磨涂層等。

      NanoCalc系統(tǒng)

      NC-UV-VIS-NIR

      重量:

      250-1100nm

      厚度:

      10nm-70µm

      光源:

      氘鹵燈

      NC-UV-VIS

      重量:

      250-850nm

      厚度:

      10nm-20µm

      光源:

      氘鹵燈

      NC-VIS-NIR

      重量:

      400-1100nm

      厚度:

      20nm-100µm (可選1µm-250µm)

      光源:

      鹵燈

       

      NC-VIS

      重量:

      400-850nm

      厚度:

      50nm-20µm

      光源:

      鹵燈

      NC-NIR

      重量:

      650-1100nm

      厚度:

      70nm-70µm

      光源:

      鹵燈

      NC-NIR-HR

      重量:

      650-1100nm

      厚度:

      70nm-70µm

      光源:

      鹵燈

      NC-512-NIR

      重量:

      900-1700 nm

      厚度:

      50nm-200µm

      光源:

      高亮度鹵燈

      NanoCalc規(guī)格

      入射角

      90°

      層數(shù)

      3層以下

      需要進(jìn)行參考值測量

      透明材料

      傳輸模式

      粗糙材料

      測量速度

      100ms - 1s

      在線監(jiān)測

      可以

      公差(高度)

      參考值測量或準(zhǔn)直(74-UV)

      公差(角度)

      參考值測量

      微黑子選項(xiàng)

      配顯微鏡

      顯示選項(xiàng)

      配顯微鏡

      定位選項(xiàng)

      6"和12" XYZ 定位臺

      真空

      可以

      關(guān)鍵詞:顯微鏡
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