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第1章顯微鏡的發(fā)展歷史1

11光學顯微鏡1

12電子顯微鏡6

13掃描探針顯微鏡11

參考文獻20

第2章掃描隧道顯微鏡22

21歷史發(fā)展22

22STM的原理與結(jié)構(gòu)28

221量子隧道效應(yīng)28

222壓電效應(yīng)與壓電陶瓷31

23STM的系統(tǒng)組成33

231探針掃描系統(tǒng)33

232STM針尖的制備與處理35

233電流檢測與反饋系統(tǒng)38

234針尖趨近系統(tǒng)38

235振動隔離系統(tǒng)40

236數(shù)據(jù)處理與顯示系統(tǒng)41

24STM工作模式42

241基本模式42

242衍生模式44

25STM的發(fā)展49

參考文獻51

第3章原子力顯微鏡53

31簡介53

32AFM原理與結(jié)構(gòu)57

321AFM與STM原理之比較57

322AFM的組成58

33AFM力監(jiān)測器59

331力傳感器60

332光電檢測器68

34AFM的工作模式69

341接觸模式71

342非接觸模式72

343輕敲模式72

344相位成像模式73

345輕敲抬高模式77

35力距離曲線77

參考文獻83

第4章掃描近場光學顯微鏡86

41歷史87

42原理與結(jié)構(gòu)90

421近場與遠場90

422SNOM結(jié)構(gòu)93

43SNOM探針96

431光纖探針的基本結(jié)構(gòu)96

432探針形狀與小孔粗糙度97

433SNOM探針的制備98

44針尖樣品間距離的控制102

441SNOM的工作模式102

442SNOM的襯度類型103

443SNOM針尖樣品間距離的控制方法105

45商用SNOM107

46應(yīng)用108

461高分辨率光學成像108

462數(shù)據(jù)存儲111

463局域光譜111

464生命科學應(yīng)用及單個分子探測112

參考文獻115

第5章其他掃描探針顯微鏡118

51磁力顯微鏡119

511MFM工作原理119

512MFM與其他顯微鏡的比較120

513MFM的應(yīng)用121

52靜電力顯微鏡125

521EFM原理125

522EFM的應(yīng)用127

523掃描電容顯微鏡128

53摩擦力顯微鏡129

54掃描熱顯微鏡133

55掃描離子電導顯微鏡135

參考文獻135

第6章掃描探針顯微鏡的問題及解決方法138

61微懸臂彈性常數(shù)的計算138

611微懸臂彎曲變形彈性常數(shù)的計算138

612微懸臂扭曲變形彈性常數(shù)的計算148

62針尖與樣品間的相互作用155

621力距離曲線155

622微懸臂黏附顆粒157

63針尖污染與清潔162

631污染針尖的鑒別方法162

632污染針尖的清潔方法163

64針尖改性（針尖疏水化）165

641親水和疏水的AFM針尖165

642針尖的疏水化處理166

65AFM在液相環(huán)境中的操作167

651空氣環(huán)境與液相環(huán)境的比較167

652AFM在液相環(huán)境中工作時需注意的事項168

653掃描模式與水化膜對掃描成像的

掃描探針顯微鏡自20世紀80年代初出現(xiàn)以來，在短短20年的時間里，一直是各國科學家的研究熱點，并迅速發(fā)展成為一個含20多個品種的龐大顯微鏡家族。本書共分七章，依次向讀者展現(xiàn)：
顯微鏡的發(fā)展歷史；
系統(tǒng)介紹掃描隧道顯微鏡、原子力顯微鏡和掃描近場光學顯微鏡等掃描探針顯微鏡的主要成員；
扼要介紹磁力顯微鏡、靜電力顯微鏡等其他類掃描探針顯微鏡；
闡述掃描探針顯微鏡使用過程中可能遇到的一些問題及相應(yīng)的處理方法；
論述掃描探針顯微鏡在各方面的應(yīng)用。
本書可供顯微鏡專業(yè)操作和研究人員閱讀，也可以作為納米材料、生命科學、醫(yī)學等專業(yè)領(lǐng)域的教材及相關(guān)研究人員的參考書。