第一章緒論1
第一節(jié)X射線熒光光譜的產(chǎn)生及其特點(diǎn)1
第二節(jié)X射線熒光分析技術(shù)的新應(yīng)用1
一、在生物、生命及環(huán)境領(lǐng)域中的應(yīng)用1
二、在材料及毒性物品監(jiān)測(cè)中的應(yīng)用2
第三節(jié)X射線熒光光譜儀研制進(jìn)展2
參考文獻(xiàn)3
第二章基本原理4
第一節(jié)特征X射線的產(chǎn)生與特性4
一、特征X射線4
二、特征譜線系5
三、譜線相對(duì)強(qiáng)度8
四、熒光產(chǎn)額8
第二節(jié)X射線吸收9
一、X射線衰減9
二、吸收邊9
三、吸收躍變10
四、質(zhì)量衰減系數(shù)的計(jì)算10
第三節(jié)X射線散射11
一、相干散射11
二、非相干散射11
第四節(jié)X射線熒光光譜分析原理13
第五節(jié)X射線衍射分析13
參考文獻(xiàn)14
第三章激發(fā)源15
第一節(jié)常規(guī)X射線光管15
一、光管結(jié)構(gòu)與工作原理15
二、連續(xù)X射線譜16
三、特征X射線譜16
四、光管特性17
第二節(jié)液體金屬陽(yáng)極X射線光管18
第三節(jié)冷X射線光管19
第四節(jié)單色與選擇激發(fā)19
一、濾光片19
二、二次靶20
第五節(jié)同位素源20
第六節(jié)同步輻射光源與粒子激發(fā)21
第七節(jié)聚束毛細(xì)管X射線透鏡22
第八節(jié)X射線激光光源23
參考文獻(xiàn)24
第四章探測(cè)器25
第一節(jié)波長(zhǎng)色散探測(cè)器25
一、流氣式氣體正比計(jì)數(shù)器25
二、NaI閃爍計(jì)數(shù)器26
三、波長(zhǎng)色散探測(cè)器的逃逸峰27
第二節(jié)能量探測(cè)器28
一、能量探測(cè)原理28
二、能量探測(cè)器組成與特性28
三、能量探測(cè)器的逃逸峰30
第三節(jié)新型能量探測(cè)器30
一、Ge探測(cè)器30
二、SiPIN探測(cè)器31
三、Si漂移探測(cè)器（SDD）34
四、電耦合陣列探測(cè)器（CDD）35
五、超導(dǎo)躍變微熱量感應(yīng)器（TES）35
六、超導(dǎo)隧道結(jié)探測(cè)器（STJ）36
七、CdZnTe探測(cè)器37
八、鉆石探測(cè)器（CVDD）39
九、無(wú)定形硅探測(cè)器（ASi）40
第四節(jié)各種探測(cè)器性能比較41
一、波長(zhǎng)色散與能量色散能力41
二、探測(cè)器分辨率比較41
三、探測(cè)器的選用42
參考文獻(xiàn)44
第五章X熒光光譜儀47
第一節(jié)波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀47
一、X射線光管、探測(cè)器與光譜儀結(jié)構(gòu)47
二、分光晶體及分辨率48
三、脈沖放大器和脈高分析器48
第二節(jié)能量色散X射線熒光光譜儀50
第三節(jié)同位素源激發(fā)X射線熒光光譜儀51
第四節(jié)偏振激發(fā)X射線熒光光譜儀52
第五節(jié)全反射X射線熒光光譜儀53
第六節(jié)同步輻射X射線熒光光譜儀55
第七節(jié)聚束毛細(xì)管透鏡微束XRF光譜儀56
參考文獻(xiàn)57
第六章定性與定量分析方法58
第一節(jié)定性分析58
第二節(jié)定量分析59
一、獲取譜峰凈強(qiáng)度60
二、干擾校正60
三、濃度計(jì)算61
第三節(jié)數(shù)學(xué)校正法62
第四節(jié)實(shí)驗(yàn)校正方法62
一、標(biāo)準(zhǔn)化62
二、內(nèi)標(biāo)法63
三、標(biāo)準(zhǔn)添加法64
四、散射線內(nèi)標(biāo)法64
第五節(jié)實(shí)驗(yàn)校正實(shí)例——散射線校正方法64
一、散射效應(yīng)與利用64
二、濾光片對(duì)Compton峰和分析譜線的影響65
三、準(zhǔn)直器直徑對(duì)譜線的影響67
四、Compton峰位隨濾光片材料的原子序數(shù)增加而產(chǎn)生漂移68
參考文獻(xiàn)69
第七章基本校正71
第一節(jié)基本參數(shù)法72
一、理論熒光強(qiáng)度72
二、相關(guān)基本參數(shù)計(jì)算75
三、基本參數(shù)法76
第二節(jié)理論校正系數(shù)77
一、基本影響系數(shù)77
二、理論校正系數(shù)81
三、系數(shù)變換84
參考文獻(xiàn)85
第八章分析誤差和統(tǒng)計(jì)不確定87
第一節(jié)分析誤差和分布函數(shù)87
一、分析誤差87
二、分布函數(shù)88
第二節(jié)計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)學(xué)88
第三節(jié)靈敏度、檢出限及XRF中的誤差來(lái)源89
一、靈敏度和檢出限89
二、XRF中的誤差來(lái)源90
第四節(jié)不確定度及不確定度計(jì)算90
一、測(cè)量不確定度90
二、統(tǒng)計(jì)不確定度91
三、誤差傳遞與不確定度91
四、不確定度計(jì)算式92
五、平均值的不確定度
本書(shū)分十二章介紹了X射線熒光光譜分析的原理，儀器主要部件，定性與定量分析方法，基體校正與數(shù)據(jù)處理方法，樣品制備技術(shù)，具有共性的儀器校正方法、日常維護(hù)知識(shí)和故障判斷原則等。內(nèi)容豐富、新穎、翔實(shí)，在探測(cè)器技術(shù)、基體校正、樣品制備、儀器維護(hù)等章節(jié)具有特色。
本書(shū)可供X射線熒光光譜分析工作者學(xué)習(xí)參考，同時(shí)也可作為高等學(xué)校與儀器分析相關(guān)專(zhuān)業(yè)師生的參考書(shū)。
